激光头信号检测与处理系统的研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 目次 | 第5-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-15页 |
| 1．1 数字光盘产业概况与发展趋势 | 第7-10页 |
| 1．2 激光头技术的发展现状 | 第10-13页 |
| 1．3 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 激光头信号检测与处理系统原理 | 第15-37页 |
| 2．1 激光头信号检测与处理系统 | 第15-21页 |
| 2．1．1 激光头信号检测原理 | 第15-17页 |
| 2．1．2 激光头结构分析 | 第17-19页 |
| 2．1．3 激光头性能参数 | 第19-21页 |
| 2．2 激光头光学系统研究 | 第21-28页 |
| 2．2．1 光学系统的组成 | 第21-24页 |
| 2．2．2 激光头光路研究 | 第24-25页 |
| 2．2．3 光学系统安装误差对检测信号的影响 | 第25-28页 |
| 2．3 激光头聚焦、寻迹误差信号检测方法 | 第28-37页 |
| 2．3．1 聚焦误差信号检测方法 | 第28-33页 |
| 2．3．2 寻迹误差信号检测方法 | 第33-37页 |
| 第三章 执行器设计原理 | 第37-42页 |
| 3．1 执行器的结构特点 | 第37-39页 |
| 3．1．1 执行器总体结构要求 | 第37页 |
| 3．1．2 执行器的结构特点 | 第37-39页 |
| 3．2 执行器的动作原理 | 第39-40页 |
| 3．2．1 执行器动作原理 | 第39页 |
| 3．2．2 松下光头4WS结构执行器动作原理 | 第39-40页 |
| 3．3 执行器特性参数 | 第40-42页 |
| 3．3．1 静态特性及测试方法 | 第41页 |
| 3．3．2 动态特性及测试方法 | 第41-42页 |
| 第四章 执行器磁路优化设计 | 第42-68页 |
| 4．1 执行器磁路结构及设计要求 | 第42-44页 |
| 4．1．1 执行器典型磁路结构 | 第42-43页 |
| 4．1．2 执行器磁路设计要求 | 第43-44页 |
| 4．2 执行器磁场计算方法 | 第44-51页 |
| 4．2．1 执行器磁路的设计方法 | 第45-49页 |
| 4．2．2 工作气隙磁场强度的计算 | 第49-51页 |
| 4．3 磁路结构优化设计及其结果 | 第51-62页 |
| 4．3．1 磁路优化方案 | 第52-55页 |
| 4．3．2 优化设计的理论分析 | 第55-60页 |
| 4．3．3 方案的实施与验证 | 第60-62页 |
| 4．4 实验结果的综合分析 | 第62-68页 |
| 第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
