计算机辅助氢损伤监测技术的研究
第一章 绪论 | 第1-15页 |
·氢对金属性能的影响 | 第8-9页 |
·氢探测仪的种类 | 第9-11页 |
·压力型氢探测仪 | 第9-10页 |
·真空型氢探测仪 | 第10页 |
·电化学法氢探测仪 | 第10-11页 |
·计算机技术在氢损伤研究领域的应用前景 | 第11-13页 |
·现场监测 | 第11页 |
·信息处理 | 第11-12页 |
·专家系统 | 第12页 |
·神经网络 | 第12-13页 |
·本论文的研究内容 | 第13页 |
参考文献 | 第13-15页 |
第二章 氢渗透理论基础 | 第15-28页 |
·氢的吸附和进入 | 第15-16页 |
·气态氢的吸附和进入 | 第15页 |
·阴极充氢 | 第15-16页 |
·氢在金属中的溶解和扩散 | 第16-17页 |
·氢在金属中的存在状态 | 第16页 |
·氢在金属中的扩散 | 第16-17页 |
·氢渗透电化学研究方法 | 第17-26页 |
·电化学渗氢的基本原理 | 第17-18页 |
·逐步法 | 第18-19页 |
·非稳态静态电位时间滞后法 | 第19-20页 |
·脉冲法 | 第20-21页 |
·强制振荡法 | 第21-23页 |
·自激振荡法 | 第23页 |
·比较析氢法 | 第23-26页 |
·六种电化学渗氢方法比较 | 第26页 |
·本章小结 | 第26页 |
参考文献 | 第26-28页 |
第三章 氢渗透数学建模 | 第28-41页 |
·单层试样渗氢分析模型 | 第28-34页 |
·数学模型 | 第28页 |
·拉普拉斯变换求解 | 第28-29页 |
·傅立叶变换求解 | 第29-30页 |
·Yen-Shih解 | 第30-32页 |
·三种解的适用范围比较 | 第32页 |
·拐点切线法 | 第32-34页 |
·多层材料薄片中的氢渗透分析 | 第34-38页 |
·数学模型及浓度分布 | 第34-37页 |
·滞后时间 | 第37-38页 |
·本章小结 | 第38-40页 |
参考文献 | 第40-41页 |
第四章 数据采集虚拟设备驱动开发 | 第41-54页 |
·氢损伤监测系统组成 | 第41-43页 |
·系统结构 | 第41-42页 |
·数据采集卡接口板卡结构 | 第42-43页 |
·数据采集设备驱动模块开发 | 第43-53页 |
·Windows98操作系统简介 | 第43-44页 |
·VxD的功能结构与运行原理 | 第44-47页 |
·数据采集虚拟设备驱动程序(VxD)开发 | 第47-53页 |
·本章小结 | 第53页 |
参考文献 | 第53-54页 |
第五章 实时数据采集程序开发 | 第54-83页 |
·Windows的消息驱动机制 | 第54-55页 |
·Windows下精确定时实现 | 第55-59页 |
·秒级精确定时 | 第55-56页 |
·毫秒级精度定时 | 第56-58页 |
·微秒级定时器 | 第58-59页 |
·Windows环境下数据采集程序开发 | 第59-82页 |
·用户界面子模块设计 | 第59-71页 |
·数字滤波处理子模块设计 | 第71-73页 |
·数据保存子模块设计 | 第73-75页 |
·数据分析子模块设计 | 第75页 |
·程序运行界面及功能 | 第75-80页 |
·电化学渗氢联机测试 | 第80-82页 |
·存在的问题 | 第82页 |
·本章小结 | 第82页 |
参考文献 | 第82-83页 |
第六章 总结论 | 第83-85页 |
致谢 | 第85页 |