| 摘要 | 第3-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 暗物质探测实验与低本底控制 | 第15-37页 |
| 1.1 暗物质存在的证据 | 第16-20页 |
| 1.2 WIMP探测实验的现状 | 第20-29页 |
| 1.2.1 WIMP的间接探测和加速器实验探测 | 第21-22页 |
| 1.2.2 WIMP的直接探测 | 第22-26页 |
| 1.2.3 气液二相氙直接探测方法 | 第26-29页 |
| 1.3 暗物质探测实验中本底控制及分析 | 第29-36页 |
| 1.3.1 中国锦屏地下实验室 | 第31-34页 |
| 1.3.2 放射性本底检测技术 | 第34-36页 |
| 1.4 本文的选题和研究目的 | 第36-37页 |
| 第二章 PandaX实验材料检测站的设计与建造 | 第37-69页 |
| 2.1 高纯锗半导体探测器及放射性检测 | 第38-50页 |
| 2.1.1 半导体探测器基本介绍 | 第38-44页 |
| 2.1.2 高纯锗探测器 | 第44-46页 |
| 2.1.3 基于高纯锗探测器的材料检测站 | 第46-50页 |
| 2.2 锦屏材料检测站(CJPL-CS)系统 | 第50-60页 |
| 2.2.1 Ortec高纯锗探测器的性能 | 第50-51页 |
| 2.2.2 CJPL-CS放射性主动屏蔽体设计 | 第51-56页 |
| 2.2.3 CJPL-CS祛氡气系统 | 第56-60页 |
| 2.3 上海交大检测站(SJTU-CS)系统 | 第60-69页 |
| 2.3.1 Canberra高纯锗探测器性能 | 第61-64页 |
| 2.3.2 SJTU-CS的伽马屏蔽体设计 | 第64-67页 |
| 2.3.3 SJTU-CS宇宙线反复合系统 | 第67-69页 |
| 第三章 材料检测站的运行及数据分析 | 第69-115页 |
| 3.1 CJPL-CS的性能标定 | 第70-89页 |
| 3.1.1 GEMMX锗探测器的能量刻度 | 第70-78页 |
| 3.1.2 CJPL-CS的能量分辨率 | 第78-81页 |
| 3.1.3 CJPL-CS本底水平 | 第81-85页 |
| 3.1.4 CJPL-CS氡气含量 | 第85页 |
| 3.1.5 CJPL-CS的灵敏度 | 第85-89页 |
| 3.2 使用蒙特卡洛模拟方法研究CJPL-CS探测效率 | 第89-102页 |
| 3.2.1 基于模拟结果的探测效率计算 | 第89-93页 |
| 3.2.2 探测效率标定 | 第93-95页 |
| 3.2.3 灵敏度研究 | 第95-102页 |
| 3.3 CJPL-CS样品放射性检测 | 第102-110页 |
| 3.3.1 待测样品的制备及检测 | 第102-106页 |
| 3.3.2 样品放射性计算 | 第106-110页 |
| 3.4 SJTU-CS的灵敏度分析 | 第110-115页 |
| 第四章 PandaX暗物质探测实验的蒙特卡洛建模 | 第115-131页 |
| 4.1 PandaX-Ⅰ/Ⅱ的探测器结构 | 第116-124页 |
| 4.1.1 PandaX-Ⅰ探测器结构 | 第116-118页 |
| 4.1.2 PandaX-Ⅱ探测器结构及基本物理原理 | 第118-124页 |
| 4.2 PandaX-Ⅰ/Ⅱ实验放射性本底含量 | 第124-131页 |
| 4.2.1 PandaX-Ⅰ/Ⅱ探测器材料射性本底含量 | 第125-129页 |
| 4.2.2 PandaX-Ⅰ/Ⅱ液氙自身放射性本底含量 | 第129-131页 |
| 第五章 PandaX实验模拟结果分析 | 第131-171页 |
| 5.1 蒙特卡洛模拟及实际数据的处理 | 第132-140页 |
| 5.1.1 模拟本底数据的预处理和筛选 | 第133-135页 |
| 5.1.2 数据重建能量的修正 | 第135-136页 |
| 5.1.3 模拟数据能量分辨率处理 | 第136-137页 |
| 5.1.4 模拟数据采数探测效率的修正：QuantaNest | 第137-140页 |
| 5.2 PandaX液氙放射性核素探测效率的分析 | 第140-160页 |
| 5.2.1 PandaX-Ⅰ/Ⅱ的氪含量分析 | 第142-146页 |
| 5.2.2 PandaX-Ⅰ/Ⅱ的氡含量分析 | 第146-156页 |
| 5.2.3 PandaX-Ⅱ的放射性氙核素含量分析 | 第156-160页 |
| 5.3 PandaX-II实验与模拟数据的对比和讨论 | 第160-169页 |
| 5.3.1 本底事例空间分布对比. | 第161-163页 |
| 5.3.2 本底能谱对比 | 第163-164页 |
| 5.3.3 PandaX-Ⅰ/Ⅱ的本底事例率水平 | 第164-167页 |
| 5.3.4 对比结果的讨论 | 第167-169页 |
| 5.4 其它模拟分析 | 第169-171页 |
| 第六章 PandaX实验结果归纳与展望 | 第171-187页 |
| 6.1 PandaX-Ⅰ/Ⅱ暗物质探测试验结果 | 第171-178页 |
| 6.1.1 PandaX-Ⅰ实验结果总结 | 第171-174页 |
| 6.1.2 PandaX-Ⅱ实验结果总结 | 第174-178页 |
| 6.2 PandaX-Ⅲ与 PandaX-4T | 第178-183页 |
| 6.2.1 PandaX-Ⅲ无中微子双贝塔衰变实验 | 第179-181页 |
| 6.2.2 PandaX-4T暗物质探测实验 | 第181-183页 |
| 6.3 材料检测站的升级计划 | 第183-187页 |
| 第七章 总结 | 第187-189页 |
| 7.1 放射性本底控制 | 第187-188页 |
| 7.2 PandaX-Ⅰ/Ⅱ实验的蒙特卡洛本底模拟 | 第188-189页 |
| 参考文献 | 第189-197页 |
| 致谢 | 第197-199页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第199-201页 |
