| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 缩略词注释 | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-26页 |
| 1.1 课题来源、研究背景及研究意义 | 第10-14页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.1.2 研究背景及意义 | 第10-14页 |
| 1.2 三维测量及叶片点云数据获取技术国内外研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 光栅投影三维测量方法关键技术研究现状 | 第17-24页 |
| 1.3.1 三维测量系统模型分类 | 第17-19页 |
| 1.3.2 截断相位提取技术分类及研究现状 | 第19-20页 |
| 1.3.3 截断相位展开技术分类及研究现状 | 第20-22页 |
| 1.3.4 测量系统标定方法分类及研究现状 | 第22-24页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第24-26页 |
| 第二章 测量系统建模与投影条纹生成 | 第26-34页 |
| 2.1 引言 | 第26页 |
| 2.2 光栅投影三维测量系统建模 | 第26-29页 |
| 2.2.1 完全约束测量系统模型 | 第27-28页 |
| 2.2.2 解除平行性约束的测量系统模型 | 第28-29页 |
| 2.3 非均匀条纹生成 | 第29-32页 |
| 2.4 本章总结 | 第32-34页 |
| 第三章 非均匀条纹截断相位提取及二值时空编码相位展开研究 | 第34-44页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 截断相位提取 | 第34-35页 |
| 3.3 截断相位展开 | 第35-37页 |
| 3.4 非均匀条纹截断相位二值时空编码相位展开 | 第37-40页 |
| 3.4.1 非均匀条纹截断相位分界线提取 | 第37-38页 |
| 3.4.2 非均匀条纹二值时空编码与解码 | 第38-40页 |
| 3.5 非均匀条纹二值时空编码相位展开仿真实验 | 第40-42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 第四章 多项式拟合法系统标定研究 | 第44-54页 |
| 4.1 引言 | 第44-45页 |
| 4.2 多项式拟合法中待标定参数研究 | 第45-48页 |
| 4.3 多项式拟合法系统标定流程 | 第48页 |
| 4.4 多项式拟合法系统标定仿真实验 | 第48-52页 |
| 4.4.1 拱桥形物体仿真测试实验 | 第48-50页 |
| 4.4.2 正方形物体仿真测试实验 | 第50-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第五章 叶片三维测量采集系统 | 第54-62页 |
| 5.1 引言 | 第54页 |
| 5.2 叶片点云数据采集系统硬件构成 | 第54-56页 |
| 5.2.1 图像投射部分 | 第54-55页 |
| 5.2.2 图像采集与处理部分 | 第55页 |
| 5.2.3 整体测量系统平台 | 第55-56页 |
| 5.3 叶片点云数据采集实验 | 第56-60页 |
| 5.3.1 测量系统标定 | 第56-57页 |
| 5.3.2 叶片连续绝对相位获取 | 第57-58页 |
| 5.3.3 叶片三维形貌恢复 | 第58-59页 |
| 5.3.4 测量结果分析 | 第59-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第六章 结论与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 全文总结 | 第62-63页 |
| 6.2 展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 攻读硕士学位期间所取得的相关科研成果 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |