| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 贮存可靠性研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 国外贮存可靠性研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内贮存可靠性研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 加速退化试验技术的研究现状 | 第13-18页 |
| 1.3.1 加速退化试验的基本原理 | 第13-15页 |
| 1.3.2 退化过程建模和退化数据统计分析方法的研究现状 | 第15-18页 |
| 1.4 电连接器贮存可靠性的国内外研究现状及存在的问题 | 第18-19页 |
| 1.5 课题来源与研究内容 | 第19-21页 |
| 1.5.1 课题来源 | 第19-20页 |
| 1.5.2 主要研究内容 | 第20-21页 |
| 第二章 电连接器的贮存环境效应和失效机理分析 | 第21-34页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 电连接器的结构、类型和功能 | 第21-25页 |
| 2.2.1 电连接器的组成结构 | 第21-23页 |
| 2.2.2 电连接器的主要类型 | 第23-25页 |
| 2.2.3 型号对电连接器的功能要求 | 第25页 |
| 2.3 电连接器的贮存环境效应分析 | 第25-28页 |
| 2.3.1 接触件的环境效应分析 | 第25-26页 |
| 2.3.2 绝缘件的环境效应分析 | 第26-27页 |
| 2.3.3 壳体的环境效应分析 | 第27-28页 |
| 2.3.4 附件的环境效应分析 | 第28页 |
| 2.4 电连接器贮存环境失效模式分析 | 第28-29页 |
| 2.5 电连接器贮存环境失效机理分析 | 第29-33页 |
| 2.5.1 库存过程中电连接器的失效机理分析 | 第29-31页 |
| 2.5.2 测试过程中插拔对电连接器失效机理的影响 | 第31-33页 |
| 2.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 插拔对电连接器接触性能影响的试验研究 | 第34-48页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 电连接器的加速退化试验 | 第34-39页 |
| 3.2.1 不考虑插拔的电连接器加速退化试验 | 第34-37页 |
| 3.2.2 考虑插拔的电连接器加速退化试验 | 第37-39页 |
| 3.3 插拔对电连接器接触性能影响的分析 | 第39-45页 |
| 3.4 电连接器接触失效的微观分析 | 第45-46页 |
| 3.5 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 考虑插拔的电连接器贮存可靠性评估与寿命预测 | 第48-59页 |
| 4.1 引言 | 第48页 |
| 4.2 考虑插拔的电连接器贮存可靠性评估模型 | 第48-54页 |
| 4.2.1 考虑插拔的电连接器接触电阻数学表达式 | 第48-53页 |
| 4.2.2 电连接器的贮存可靠性评估模型 | 第53-54页 |
| 4.3 考虑插拔的电连接器贮存可靠性评估 | 第54-57页 |
| 4.4 考虑插拔的电连接器贮存寿命预测 | 第57-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 5.1 总结 | 第59-60页 |
| 5.2 展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-68页 |
| 附录：部分试验数据 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 攻读硕士学位期间科研成果和参与项目情况 | 第73页 |
