| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-22页 |
| §1.1 课题背景及意义 | 第13-14页 |
| §1.2 纳米颗粒粒度、密度和浓度测量方法综述 | 第14-18页 |
| §1.2.1 纳米颗粒粒度测量方法综述 | 第14-17页 |
| §1.2.2 密度和浓度测量方法综述 | 第17-18页 |
| §1.3 层析成像国内外研究现状 | 第18-20页 |
| §1.3.1 层析成像发展 | 第18-20页 |
| §1.3.2 层析成像分类及特点 | 第20页 |
| §1.4 本文研究内容和章节安排 | 第20-22页 |
| §1.4.1 本文的研究内容 | 第20-21页 |
| §1.4.2 本文的章节安排 | 第21-22页 |
| 第二章 胶体多参数测量原理 | 第22-33页 |
| §2.1 超声检测基础 | 第22-27页 |
| §2.1.1 超声及其产生 | 第22-23页 |
| §2.1.2 超声波特征量 | 第23-27页 |
| §2.2 纳米颗粒粒度测量理论模型 | 第27-32页 |
| §2.2.1 ECAH 理论模型 | 第27-29页 |
| §2.2.2 “长波长”简化模型 | 第29-31页 |
| §2.2.3 BLBL（Bouguer-Lambert-Beer-Law）模型 | 第31-32页 |
| §2.3 纳米颗粒密度和浓度测量模型 | 第32页 |
| §2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 胶体多参数测量系统及测量方法 | 第33-48页 |
| §3.1 硬件系统 | 第33-38页 |
| §3.1.1 超声换能器及激励系统 | 第33-36页 |
| §3.1.2 数据采集系统 | 第36-38页 |
| §3.2 软件系统 | 第38-43页 |
| §3.3 声速、声衰减和声阻抗测量方法 | 第43-46页 |
| §3.3.1 直接接触式 | 第43-45页 |
| §3.3.2 多次回波法 | 第45-46页 |
| §3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 胶体多参数测量结果与讨论 | 第48-66页 |
| §4.1 胶体多参数测量结果 | 第48-55页 |
| §4.1.1 样品准备 | 第48页 |
| §4.1.2 测量步骤 | 第48-49页 |
| §4.1.3 纳米 ATO 测量结果 | 第49-53页 |
| §4.1.4 纳米硫磺测量结果 | 第53-55页 |
| §4.2 不同激励方式对颗粒粒度表征的影响 | 第55-60页 |
| §4.3 颗粒团聚对颗粒粒度表征的影响 | 第60-64页 |
| §4.4 测量范围探讨 | 第64-65页 |
| §4.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 超声层析成像基础 | 第66-75页 |
| §5.1 超声层析成像的发展 | 第66-69页 |
| §5.1.1 几何声学近似 | 第66-68页 |
| §5.1.2 基于波动理论 | 第68-69页 |
| §5.2 超声波在非均匀两相介质中的传播特性 | 第69-72页 |
| §5.2.1 波动方程的基本形式 | 第69-71页 |
| §5.2.2 齐次波动方程 | 第71-72页 |
| §5.2.3 非齐次波动方程 | 第72页 |
| §5.3 超声层析成像技术面临的几大问题 | 第72-73页 |
| §5.4 本章小结 | 第73-75页 |
| 第六章 多通道同步采集系统设计 | 第75-91页 |
| §6.1 扇形束超声传感器阵列设计 | 第75-80页 |
| §6.1.1 扫描方式的选择 | 第75-76页 |
| §6.1.2 超声传感器晶片形式及个数的确定 | 第76-77页 |
| §6.1.3 超声传感器的设计 | 第77-78页 |
| §6.1.4 超声换能器的制作 | 第78-79页 |
| §6.1.5 超声换能器的测试 | 第79-80页 |
| §6.2 放大电路设计与制作 | 第80-87页 |
| §6.2.1 阻抗匹配模块 | 第81-82页 |
| §6.2.2 两级放大模块 | 第82-83页 |
| §6.2.3 两阶带通滤波模块 | 第83-84页 |
| §6.2.4 电路仿真分析 | 第84-86页 |
| §6.2.5 PCB 板设计及测试 | 第86-87页 |
| §6.3 多通道同步采集程序设计 | 第87-88页 |
| §6.4 层析成像实验 | 第88-90页 |
| §6.5 本章小结 | 第90-91页 |
| 第七章 总结和展望 | 第91-93页 |
| §7.1 本文总结 | 第91-92页 |
| §7.2 本文展望 | 第92-93页 |
| 附录一 多参数测量程序使用说明书 | 第93-97页 |
| 附录二 PCB板设计图及实物图 | 第97-100页 |
| 主要符号表 | 第100-101页 |
| 参考文献 | 第101-111页 |
| 在读期间公开发表的论文及承担项目及取得成果 | 第111-112页 |
| 致谢 | 第112-113页 |
| 后记 | 第113-114页 |