工业CT图像杯状伪影校正方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| ·课题的研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第9-10页 |
| ·X 射线工业 CT 简介 | 第10-15页 |
| ·X 射线工业 CT 系统的组成 | 第10-12页 |
| ·工业 CT 图像质量的性能指标 | 第12-13页 |
| ·工业 CT 伪影概述 | 第13-15页 |
| ·论文的研究内容与结构安排 | 第15-16页 |
| 2 杯状伪影成因分析及常用方法 | 第16-22页 |
| ·产生机理 | 第16页 |
| ·杯状伪影对重建图像的影响 | 第16-19页 |
| ·常用的校正方法 | 第19-21页 |
| ·滤波片校正法 | 第19页 |
| ·双能校正法 | 第19-20页 |
| ·线性化校正法 | 第20-21页 |
| ·迭代重建法 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 3 软硬件相结合的校正方法 | 第22-52页 |
| ·基于多项式拟合的线性化校正法 | 第22-37页 |
| ·理论分析 | 第22-23页 |
| ·算法的实现 | 第23-24页 |
| ·仿真实验与结果分析 | 第24-29页 |
| ·实际 CT 系统实验与结果分析 | 第29-34页 |
| ·分析与总结 | 第34-37页 |
| ·软硬件相结合的校正方法 | 第37-51页 |
| ·方法介绍与实现 | 第38-41页 |
| ·仿真实验与结果分析 | 第41-42页 |
| ·实际 CT 系统实验与结果分析 | 第42-47页 |
| ·硬化曲线组 | 第47-50页 |
| ·分析与总结 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 4 串扰引起的工件边缘伪影校正 | 第52-74页 |
| ·工件边缘伪影的成因 | 第52-56页 |
| ·探测器串扰产生的原因 | 第52-53页 |
| ·串扰对重建图像的影响 | 第53-56页 |
| ·校正方法 | 第56-59页 |
| ·降低串扰的系数修正法 | 第56-57页 |
| ·方法实现 | 第57-59页 |
| ·实验结果与分析 | 第59-73页 |
| ·系数修正曲线的获取 | 第59-69页 |
| ·校正结果分析 | 第69-72页 |
| ·分析与总结 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 5 结论和展望 | 第74-76页 |
| ·论文工作总结 | 第74-75页 |
| ·后续工作展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 附录 | 第82页 |
