致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-8页 |
Abstract | 第8-10页 |
目次 | 第10-13页 |
图清单 | 第13-15页 |
附表清单 | 第15-16页 |
1 绪论 | 第16-22页 |
·论文研究背景和意义 | 第16页 |
·国内外研究现状 | 第16-18页 |
·无线电综测仪主要产品介绍 | 第16-18页 |
·自动测试技术发展 | 第18页 |
·CDMA 20001 x EV-D O | 第18-21页 |
·主要技术特点 | 第18-20页 |
·CDMA 系统工作频段 | 第20页 |
·CDMA 2000 与 1 x EV-D O 的主要区别和联系 | 第20-21页 |
·研究项目的目的与意义 | 第21页 |
·论文的内容及章节安排 | 第21-22页 |
2 CDMA 2 0001 x E V - D O校准方法的研究 | 第22-43页 |
·术语和重要测试参数分析 | 第22-30页 |
·1x E V-D O 主要调制技术及星座图 | 第22-23页 |
·矢量信号分析原理及误量矢量幅度( EVM) | 第23-25页 |
·波形质量(RHO ) | 第25-26页 |
·CDMA 系统中波形质量 RHO 与误差矢量幅度 EVM 之间关系 | 第26-28页 |
·信道功率 | 第28-29页 |
·邻道功率比 | 第29-30页 |
·码域功率 | 第30页 |
·计量特性(典型值) | 第30-31页 |
·校准条件 | 第31-33页 |
·环境条件 | 第31-32页 |
·校准所用的计量标准,仪表设备 | 第32-33页 |
·校准项目和校准方法 | 第33-42页 |
·参考晶体振荡器输出频率准确度 | 第33页 |
·输出电平 | 第33-35页 |
·频谱纯度 | 第35页 |
·单边带相位噪声 | 第35-36页 |
·占用带宽 | 第36页 |
·码域功率 | 第36-37页 |
·邻道功率比 | 第37页 |
·射频功率分析仪小功率电平 | 第37-38页 |
·射频功率分析仪中功率电平 | 第38-40页 |
·信号发生器单元数字调制质量参数 | 第40页 |
·射频输入输出端口 | 第40-41页 |
·音频分析仪测量失真示值 | 第41-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
3 1x EV - DO 自动校准测试系统的研究 | 第43-66页 |
·无线电综测仪自动测试系统硬件组成 | 第43-44页 |
·系统介绍 | 第44-46页 |
·Lavbiew 概述 | 第44-45页 |
·系统的软件架构 | 第45-46页 |
·系统的软件实现 | 第46-59页 |
·用户登录模块 | 第46-47页 |
·系统配置模块 | 第47-48页 |
·数据库模块设计 | 第48-52页 |
·检定测试模块 | 第52-55页 |
·报告生成模块 | 第55-59页 |
·主要参数手动与自动测试结果分析 | 第59-65页 |
·综测仪信号发生器单元电平测量结果分析 | 第59-61页 |
·射频信号源单边带相位噪声 | 第61-62页 |
·1x EV-DO 数字调制准确度测量结果 | 第62-63页 |
·音频信号源失真测量结果 | 第63-64页 |
·音频电平分析仪准确度 | 第64页 |
·射频端口电压驻波比 | 第64-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
4 测量结果不确定度评定 | 第66-79页 |
·测量不确定度的评定方法 | 第66页 |
·标准不确定度评定 | 第66-70页 |
·A 类评定 | 第66-67页 |
·B 类评定 | 第67-68页 |
·合成标准不确定度 | 第68-69页 |
·扩展不确定度的确定 | 第69-70页 |
·微波功率误差分析 | 第70-72页 |
·失配不确定度 | 第70-71页 |
·传感器不确定度 | 第71-72页 |
·频谱分析仪射频功率测量不确定度 | 第72-73页 |
·阻抗失配误差 | 第72页 |
·输入衰减器误差 | 第72页 |
·混频器内部失真 | 第72-73页 |
·射频信号发生器输出功率电平测量主要不确定度分析 | 第73-75页 |
·数字调制质量参数不确定度分析 | 第75-78页 |
·EVM 测试模型及算法 | 第75-76页 |
·EVM 测试误差源分析 | 第76-77页 |
·信号发生器误差矢量幅度(EVM)的误差分析 | 第77-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
5 总结与展望 | 第79-81页 |
参考文献 | 第81-86页 |
作者简历 | 第86页 |