| 摘要 | 第1页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-10页 |
| ·介质阻挡放电的放电原理和一般性质 | 第6-7页 |
| ·介质阻挡材料对放电影响的研究现状 | 第7-8页 |
| ·介质阻挡材料对放电影响的研究存在的问题 | 第8页 |
| ·论文主要内容 | 第8-10页 |
| 第二章 实验装置及实验方法介绍 | 第10-21页 |
| ·有机绝缘材料电晕表面改性实验研究系统 | 第10-13页 |
| ·高压电源及实验保护系统 | 第11-12页 |
| ·出晕电极系统 | 第12-13页 |
| ·试验信号测量采集系统 | 第13页 |
| ·测量保护系统 | 第13页 |
| ·电晕老化试验箱 | 第13页 |
| ·热刺激电流(TSC)实验研究系统 | 第13-17页 |
| ·TSC简介 | 第13页 |
| ·TSC 试验系统简介 | 第13-16页 |
| ·TSC实验的实验方法 | 第16-17页 |
| ·介质阻挡放电试验研究系统 | 第17-21页 |
| ·电源部分 | 第17-18页 |
| ·电极部分 | 第18-19页 |
| ·真空部分 | 第19-20页 |
| ·实验信号测量与记录部分 | 第20-21页 |
| 第三章 硅橡胶电晕表面改性及改性后性能测试 | 第21-34页 |
| ·硅橡胶的电晕表面改性实验 | 第21-22页 |
| ·试样介绍 | 第21页 |
| ·实验步骤 | 第21-22页 |
| ·电晕表面改性后硅橡胶的表面特性 | 第22-32页 |
| ·扫描电镜分析 | 第22-24页 |
| ·电晕表面改性后硅橡胶的TSC特性和陷阱分布 | 第24-31页 |
| ·介质材料的陷阱 | 第24-25页 |
| ·介质材料陷阱的几种测量方法 | 第25-27页 |
| ·空间电荷限制电流法 | 第25-26页 |
| ·光刺激电流法（PSC） | 第26-27页 |
| ·等温衰减电流法（IDC） | 第27页 |
| ·TSC理论和陷阱参数计算方法 | 第27-31页 |
| ·热刺激电流（TSC）实验结果 | 第31-32页 |
| ·实验结果分析 | 第32-33页 |
| ·扫描电镜结果分析 | 第32-33页 |
| ·热刺激电流结果分析 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第四章 电晕表面改性硅橡胶对介质阻挡放电的影响研究 | 第34-50页 |
| ·硅橡胶介绍 | 第34页 |
| ·判定阻挡材料优劣的方法 | 第34页 |
| ·试验步骤 | 第34-35页 |
| ·不同电晕表面改性时间硅橡胶介质阻挡放电的实验研究 | 第35-47页 |
| ·同一低气压下，放电形态比较 | 第35-44页 |
| ·三种放电形态放电电压电流波形比较 | 第44-47页 |
| ·实验结果综合分析 | 第47-49页 |
| ·二次电子发射（γ过程） | 第47-48页 |
| ·正离子轰击阴极的二次发射 | 第48页 |
| ·气体中光子引起二次发射 | 第48页 |
| ·亚稳态的二次发射 | 第48页 |
| ·表面改性硅橡胶表面陷阱在介质阻挡放电中的作用 | 第48-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第五章 结论 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 在学期间发表论文和参加科研情况 | 第56页 |