| 1 绪论 | 第1-12页 |
| ·检测技术及集成电路发展的背景概述 | 第7-9页 |
| ·检测技术的现状及发展趋势 | 第7-8页 |
| ·集成电路发展状况 | 第8-9页 |
| ·容栅式数显卡尺的现状及发展趋势 | 第9-11页 |
| ·国产数显量具的现状与发展 | 第10页 |
| ·国外数显产业的现状与发展 | 第10-11页 |
| ·本文的主要内容及章节安排 | 第11-12页 |
| 2 容栅式数显卡尺原理及建模与仿真 | 第12-27页 |
| ·检测系统的组成 | 第12-17页 |
| ·各组成部分的特点 | 第12-13页 |
| ·电容式传感器的工作原理及结构形式 | 第13-16页 |
| ·电容式传感器的基本特性 | 第16-17页 |
| ·容栅系统的结构组成及各部分工作原理 | 第17-21页 |
| ·容栅传感器的结构及位移测量原理 | 第17-21页 |
| ·测量电路(集成电路)的工作原理 | 第21页 |
| ·基于Verilog-A语言的容栅传感器的建模与仿真 | 第21-26页 |
| ·模拟硬件描述语言Verilog-A的特点及行为结构 | 第22-23页 |
| ·基于Verilog-A语言的容栅传感器的建模与仿真 | 第23-26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 3 容栅式数显卡尺专用芯片的设计 | 第27-39页 |
| ·概述 | 第27页 |
| ·集成电路的设计技术 | 第27-32页 |
| ·专用集成电路(ASIC)的设计方法 | 第27-28页 |
| ·ASIC设计流程 | 第28-30页 |
| ·低功耗设计技术 | 第30-31页 |
| ·设计使用 EDA工具的介绍 | 第31-32页 |
| ·系统芯片电路设计 | 第32-38页 |
| ·系统结构设计及电路模块划分 | 第32-33页 |
| ·电路设计的总体考虑 | 第33页 |
| ·各电路模块的设计 | 第33-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 4 芯片版图的设计与实现 | 第39-47页 |
| ·版图设计方法与工艺选择 | 第39-40页 |
| ·芯片版图的实现 | 第40-46页 |
| ·版图设计 | 第40-43页 |
| ·物理验证 | 第43-45页 |
| ·芯片版图的实现 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 5 应用测试 | 第47-49页 |
| 6 结论 | 第49-51页 |
| ·设计总结 | 第49页 |
| ·展望 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 附录 | 第54-63页 |
