摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-19页 |
1.1 贵金属纳米薄膜光学性质的研究现状 | 第9-11页 |
1.2 贵金属介电常数经典模型的缺陷 | 第11-15页 |
1.2.1 贵金属介电常数的经典模型 | 第11-12页 |
1.2.2 金的经典模型计算偏差 | 第12-14页 |
1.2.3 银的经典模型计算偏差 | 第14-15页 |
1.3 纳米薄膜介电常数与厚度的测量方法 | 第15-17页 |
1.3.1 反射/透射法 | 第16页 |
1.3.2 椭偏仪法 | 第16-17页 |
1.3.3 表面等离子体共振法 | 第17页 |
1.4 论文安排 | 第17-19页 |
第2章 银膜和金膜介电常数的第一性原理建模与分析 | 第19-48页 |
2.1 第一性原理的计算方法 | 第19-28页 |
2.2 银膜和金膜的第一性原理建模与计算 | 第28-34页 |
2.2.1 CASTEP 建模与参数设置 | 第28-32页 |
2.2.2 VASP参数设置 | 第32-34页 |
2.3 银膜介电常数的第一性原理仿真 | 第34-41页 |
2.3.1 银膜介电常数的 CASTEP 仿真结果与分析 | 第35-38页 |
2.3.2 银膜介电常数的VASP仿真结果与分析 | 第38-41页 |
2.4 金膜介电常数的第一性原理仿真 | 第41-46页 |
2.4.1 金膜介电常数的 CASTEP 仿真结果与分析 | 第42-44页 |
2.4.2 金膜介电常数的VASP仿真结果与分析 | 第44-46页 |
2.5 本章小结 | 第46-48页 |
第3章 银膜和金膜的制备与SPR光学常数测量系统的搭建 | 第48-61页 |
3.1 磁控溅射法制备银膜和金膜 | 第48-50页 |
3.2 成膜过程与介电常数变化的物理机制 | 第50-51页 |
3.3 基于角度调制型SPR的贵金属介电常数的传感模型 | 第51-57页 |
3.3.1 角度调制型SPR测量系统搭建 | 第54-55页 |
3.3.2 角度误差的差分校正法 | 第55-56页 |
3.3.3 角度调制型SPR测量结果分析方法 | 第56-57页 |
3.4 基于波长调制型SPR的贵金属介电常数的传感模型 | 第57-60页 |
3.4.1 波长调制型SPR测量系统搭建 | 第57-58页 |
3.4.2 波长调制型SPR测量结果分析方法 | 第58-60页 |
3.5 本章小结 | 第60-61页 |
第4章 银膜和金膜介电常数的测量结果与讨论 | 第61-78页 |
4.1 银膜介电常数的测量结果与分析 | 第61-70页 |
4.1.1 银膜介电常数的角度调制型SPR测量结果 | 第61-65页 |
4.1.2 银膜介电常数的波长调制型SPR测量结果 | 第65-68页 |
4.1.3 银膜介电常数测量结果和仿真结果的对比与分析 | 第68-70页 |
4.2 金膜介电常数的测量结果与分析 | 第70-77页 |
4.2.1 金膜介电常数的角度调制型SPR测量结果 | 第70-73页 |
4.2.2 金膜介电常数的波长调制型SPR测量结果 | 第73-76页 |
4.2.3 金膜介电常数测量结果和仿真结果的对比与分析 | 第76-77页 |
4.3 本章小结 | 第77-78页 |
第5章 总结与后续工作 | 第78-80页 |
致谢 | 第80-81页 |
参考文献 | 第81-86页 |
攻读学位期间获得与学位论文相关的科研成果目录 | 第86页 |