| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第11页 |
| 1.2 涡流检测技术的研究现状与热点 | 第11-14页 |
| 1.3 论文主要的研究内容和创新点 | 第14-15页 |
| 第二章 涡流检测探头制作及相关理论基础 | 第15-25页 |
| 2.1 涡流检测探头的制作 | 第15页 |
| 2.2 双激励线圈下待测平板导体内涡流密度的积分解析模型 | 第15-21页 |
| 2.2.1 双激励线圈放置于空气中时矢量磁位的积分解析模型 | 第16-18页 |
| 2.2.2 双激励线圈放置于导体上方时导体内涡流密度的积分解析模型 | 第18-21页 |
| 2.3 探头内检测线圈响应的积分解析模型 | 第21-22页 |
| 2.4 探头的实际结构参数确定方法 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 涡流影响强度概念及其积分解析模型 | 第25-31页 |
| 3.1 涡流影响强度概念 | 第25页 |
| 3.2 涡流影响强度的积分解析模型 | 第25-27页 |
| 3.3 涡流影响强度模型的验证 | 第27-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 微小孔洞形缺陷的定量研究 | 第31-49页 |
| 4.1 基于涡流影响强度概念的缺陷定量研究 | 第31-32页 |
| 4.2 微小球形缺陷的形状因子 | 第32-35页 |
| 4.3 微小圆柱形缺陷的形状因子 | 第35-48页 |
| 4.3.1 轴线平行于涡流密度方向的圆柱形缺陷 | 第35-44页 |
| 4.3.2 轴线垂直于涡流密度方向的圆柱形缺陷 | 第44-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 缺陷的定量研究仿真分析与实验 | 第49-69页 |
| 5.1 平板导体内涡流密度及涡流影响强度的分布仿真分析 | 第49-52页 |
| 5.2 缺陷的有限元仿真 | 第52-61页 |
| 5.2.1 基于COMSOL的有限元仿真模型的建立 | 第52-53页 |
| 5.2.2 球形缺陷的有限元仿真 | 第53-55页 |
| 5.2.3 轴线平行于涡流密度方向的圆柱形缺陷的有限元仿真 | 第55-58页 |
| 5.2.4 轴线垂直于涡流密度方向的圆柱形缺陷的有限元仿真 | 第58-61页 |
| 5.3 缺陷的仿真结果定量分析 | 第61-64页 |
| 5.4 圆柱形缺陷的定量分析实验 | 第64-68页 |
| 5.4.1 涡流检测实验系统 | 第64-65页 |
| 5.4.2 实验结果与分析 | 第65-68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 总结 | 第69-70页 |
| 6.2 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第77页 |
