摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 研究背景及研究意义 | 第10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
1.2.1 同相供电装置可靠性研究现状 | 第10-11页 |
1.2.2 电力电子元件可靠性研究现状 | 第11-12页 |
1.2.3 提高同相供电装置可靠性研究现状 | 第12-13页 |
1.3 论文研究的主要内容 | 第13-15页 |
第2章 同相供电装置结构及其可靠性评估方法 | 第15-27页 |
2.1 同相供电系统 | 第15-18页 |
2.1.1 传统同相供电系统 | 第15-17页 |
2.1.2 组合式同相供电系统 | 第17-18页 |
2.2 同相供电装置结构 | 第18-20页 |
2.2.1 单个功率模块的拓扑结构 | 第18-19页 |
2.2.2 同相供电装置的拓扑结构 | 第19-20页 |
2.3 电力电子元件可靠性评估方法 | 第20-24页 |
2.3.1 基于电子设备可靠性预计手册的可靠性评估方法 | 第20-22页 |
2.3.2 基于物理失效机理的可靠性评估方法 | 第22-24页 |
2.4 同相供电装置可靠性评估方法 | 第24-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 同相供电装置主要元件的可靠性评估 | 第27-40页 |
3.1 IGBT模块可靠性评估 | 第27-37页 |
3.1.1 IGBT模块损耗计算方法 | 第27-31页 |
3.1.2 IGBT模块的热网络模型 | 第31-33页 |
3.1.3 IGBT模块的结温计算方法 | 第33-34页 |
3.1.4 Matlab计算结果与SEMISEL仿真系统对比 | 第34-36页 |
3.1.5 IGBT模块的可靠性评估方法 | 第36-37页 |
3.2 其它元件的可靠性评估 | 第37-39页 |
3.2.1 直流支撑电容器的可靠性评估 | 第37-38页 |
3.2.2 串联电抗器的可靠性评估 | 第38页 |
3.2.3 控制底板的可靠性评估 | 第38-39页 |
3.3 本章小结 | 第39-40页 |
第4章 同相供电装置可靠性分析 | 第40-57页 |
4.1 同相供电装置补偿策略与补偿容量的关系 | 第40-42页 |
4.1.1 完全补偿方式下所需的补偿容量 | 第40-41页 |
4.1.2 满意补偿方式下所需的补偿容量 | 第41-42页 |
4.2 同相供电装置动态可靠性评估 | 第42-49页 |
4.2.1 同相供电装置的k/n(G)动态可靠性评估模型建立 | 第42-43页 |
4.2.2 同相供电装置动态可靠性评估流程 | 第43-44页 |
4.2.3 实例分析 | 第44-49页 |
4.3 同相供电装置可靠性冗余分析 | 第49-56页 |
4.3.1 功率模块级冗余对同相供电装置可靠性的影响 | 第49-52页 |
4.3.2 单元装置级冗余对同相供电装置可靠性的影响 | 第52-56页 |
4.4 本章小结 | 第56-57页 |
第5章 提高同相供电装置可靠性的措施 | 第57-71页 |
5.1 同相供电装置可靠性影响因素分析 | 第57-61页 |
5.1.1 功率因数的影响 | 第57页 |
5.1.2 散热热阻的影响 | 第57-59页 |
5.1.3 开关频率的影响 | 第59-61页 |
5.2 同相供电装置变频控制策略优化模型 | 第61-64页 |
5.2.1 变频控制策略提高同相供电装置可靠性的可行性 | 第61-63页 |
5.2.2 开关频率的取值范围 | 第63页 |
5.2.3 同相供电装置变频控制优化模型的建立 | 第63-64页 |
5.3 变频控制策略对同相供电装置可靠性的影响 | 第64-70页 |
5.3.1 改进粒子群优化算法 | 第64-67页 |
5.3.2 实例分析 | 第67-70页 |
5.4 本章小结 | 第70-71页 |
结论与展望 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
攻读硕士学位期间发表的论文与科研实践 | 第77页 |