| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-28页 |
| 1.1 课题来源及选题意义 | 第13-17页 |
| 1.1.1 课题研究目的及意义 | 第13-14页 |
| 1.1.2 机器视觉在各行业应用 | 第14-17页 |
| 1.2 光电外观检查的发展概况 | 第17-23页 |
| 1.2.1 广泛使用的PCB缺陷检查方法 | 第18-21页 |
| 1.2.1.1 人工目视检测方法 | 第18-19页 |
| 1.2.1.2 电气检测方法 | 第19页 |
| 1.2.1.3 红外检测方法 | 第19-20页 |
| 1.2.1.4 激光扫描检测方法 | 第20页 |
| 1.2.1.5 自动光学检测 | 第20页 |
| 1.2.1.6 自动X射线检测 | 第20-21页 |
| 1.2.2 AVI与光电外观检查机 | 第21-23页 |
| 1.2.2.1 国外及台湾地区发展现状 | 第21-22页 |
| 1.2.2.2 国内发展现状 | 第22-23页 |
| 1.3 PCB光电外观检查系统的瓶颈 | 第23-25页 |
| 1.3.1 非均匀失配光场导致源图像缺陷信息丢失 | 第24-25页 |
| 1.3.2 未考虑PCB光学特性的缺陷模型难于兼顾检测精度和速度 | 第25页 |
| 1.3.3 未考虑PCB光学特性的性能评价体系影响性能稳定性 | 第25页 |
| 1.4 本文研究的主要内容和创新 | 第25-28页 |
| 第二章 PCB光学特性模型及其高均匀光场获取方法 | 第28-49页 |
| 2.1 引言 | 第28页 |
| 2.2 计算机图形领域已报道光学特性模型 | 第28-32页 |
| 2.2.1 Phong模型 | 第29-30页 |
| 2.2.2 Torrance-Sparrow模型 | 第30-31页 |
| 2.2.3 Cook-Torrance模型 | 第31-32页 |
| 2.3 基于PHONG模型的高均匀高对比光场照明方法 | 第32-47页 |
| 2.3.1 国内外研究进展 | 第32-35页 |
| 2.3.2 传统照明方法的图像阴影条纹问题 | 第35-37页 |
| 2.3.3 图像阴影条纹的产生机理验证 | 第37-40页 |
| 2.3.4 本文提出的消除阴影条纹的高均匀光场获取方法 | 第40-47页 |
| 2.3.4.1 理论分析和仿真结果 | 第41-44页 |
| 2.3.4.2 实验结果 | 第44-46页 |
| 2.3.4.3 本照明方法的适用性讨论 | 第46-47页 |
| 2.4 高均匀的光场中检测率提高的结果 | 第47页 |
| 2.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 第三章 基于图像的光电外观检查机光场评价方法 | 第49-61页 |
| 3.1 引言 | 第49页 |
| 3.2 国内外照明光场评价方法研究进展 | 第49-51页 |
| 3.3 本研究基于图像的照明评价方法 | 第51-59页 |
| 3.3.1 PCB图像在不同光场中的图像特征 | 第51-53页 |
| 3.3.2 图像色彩空间 | 第53-54页 |
| 3.3.3 基于三维色彩分布和统计的光场评价函数 | 第54-56页 |
| 3.3.4 该评价方法的实验验证 | 第56-57页 |
| 3.3.5 基于该方法的光场优化 | 第57-59页 |
| 3.4 优化的光场对系统检测率的提高 | 第59页 |
| 3.5 本章小结 | 第59-61页 |
| 第四章 基于PCB光学特性的缺陷模型的建立 | 第61-77页 |
| 4.1 引言 | 第61-62页 |
| 4.2 国内外研究进展 | 第62-64页 |
| 4.3 本文提出的基于PCB光学特性的缺陷模型 | 第64-75页 |
| 4.3.1 缺陷的图像特征 | 第64页 |
| 4.3.2 本文提出的缺陷模型 | 第64-66页 |
| 4.3.3 该模型的实验验证和检测性能 | 第66-69页 |
| 4.3.3.1 三幅典型的缺陷图像的实现 | 第66-68页 |
| 4.3.3.2 后处理和缺陷定位 | 第68-69页 |
| 4.3.4 与常规算法的对比 | 第69-71页 |
| 4.3.5 在实际缺陷图像库的实验结果对比 | 第71-75页 |
| 4.3.6 结果讨论 | 第75页 |
| 4.4 本模型作用下系统检测率提高的结果 | 第75页 |
| 4.5 本章小结 | 第75-77页 |
| 第五章 基于PCB图像的光学采集系统性能评价及优化方法 | 第77-94页 |
| 5.1 引言 | 第77页 |
| 5.2 国内外研究进展 | 第77-81页 |
| 5.3 由于振动造成的图像畸变现象 | 第81-84页 |
| 5.3.1 采集起点漂移和尺寸涨缩效应 | 第84页 |
| 5.4 线阵成像系统的解析描述 | 第84-86页 |
| 5.5 本文提出的重复性评价方法 | 第86-93页 |
| 5.5.1 本方法的实验验证 | 第88-91页 |
| 5.5.2 基于本方法的采集系统优化实验 | 第91-93页 |
| 5.6 采集系统优化对于系统检测率的提升 | 第93页 |
| 5.7 本章小结 | 第93-94页 |
| 第六章 PCB光学特性对系统检测性能的影响机理 | 第94-103页 |
| 6.1 自动缺陷检测系统性能参数 | 第94-95页 |
| 6.2 PCB光电外观机性能整理 | 第95-98页 |
| 6.3 PCB光学特性对系统的影响 | 第98-100页 |
| 6.4 自动缺陷检测系统分析设计原则 | 第100-101页 |
| 6.5 自动缺陷检测系统的检测极限 | 第101-103页 |
| 第七章 本文结论和展望 | 第103-106页 |
| 7.1 本文研究结论 | 第103-105页 |
| 7.2 未来工作展望 | 第105-106页 |
| 致谢 | 第106-107页 |
| 参考文献 | 第107-124页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第124-126页 |
