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C公司半导体封装测试厂质量控制及管理体系改进研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
前言第8页
第一章 导论第8-13页
    1.1 课题研究背景:中国半导体封装测试行业简介第8-11页
        1.1.1 半导体产业发展史第8-9页
        1.1.2 半导体封装测试简介第9-10页
        1.1.3 中国半导体封装测试企业历史和现状第10-11页
    1.2 C 公司简介第11-13页
第二章 质量管理理论及质量体系第13-22页
    2.1 质量定义及发展历程第13-15页
        2.1.1 质量定义第13-14页
        2.1.2 质量管理发展历程第14-15页
    2.2 质量体系第15-22页
        2.2.1 质量运营体系第15页
        2.2.2 质量运营体系组成结构第15-22页
第三章 C 公司的全面质量管理改进研究第22-30页
    3.1 全面质量管理基本概念和方法第22页
    3.2 全面质量管理在 C 公司的实施和运用第22-26页
        3.2.1 C 公司的全面质量管理的四大原则第22-23页
        3.2.2 TQM 在 C 公司的实施流程第23-25页
        3.2.3 C 公司 TQM 方法和工具第25-26页
    3.3 C 公司 TQM 应用实例第26-30页
第四章 C 公司质量运营体系和工艺控制系统改进研究第30-42页
    4.1 C 公司质量运营体系改进第30-31页
    4.2 C 公司工艺过程控制系统(PCS)实施流程第31-35页
        4.2.1 C 公司工艺过程控制系统(PCS)管理实施模型第32-33页
        4.2.2 C 公司工艺过程控制系统(PCS)实施流程第33-34页
        4.2.3 C 公司工艺过程控制系统(PCS)健康状态评估计划第34-35页
    4.3 C 公司工艺过程控制系统(PCS)改进项目实例第35-42页
第五章 C 公司生产设备预防性维修和防错技术措施第42-49页
    5.1 C 公司生产设备预防性维修改进研究第42-46页
        5.1.1 生产设备预防性维护管理方法第42页
        5.1.2 C 公司生产设备预防性维护改进实例第42-46页
    5.2 C 公司防错技术措施改进研究第46-49页
        5.2.1 防错技术和方法第46-47页
        5.2.2 C 公司防错技术和方法设计应用实例分析第47-49页
第六章 总结与展望第49-51页
    6.1 本文总结第49页
    6.2 展望第49-51页
参考文献第51-52页
致谢第52-53页
攻读学位期间发表的学术论文目录第53页

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