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Ⅰ公司基于产能优化的设备调试及维护方法的研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
第1章 绪论第9-19页
   ·半导体制造业简介第9-12页
   ·半导体制造流程及设备第12-13页
   ·课题研究的背景及意义第13-14页
   ·国内外研究现状概述第14-18页
   ·课题研究的范围和目标第18页
   ·论文结构第18-19页
第2章 产能优化及设备调试、维护改善方法第19-29页
   ·生产能力的定义第19页
   ·生产能力调节因素第19-20页
   ·产能规划第20-21页
   ·产能规划的步骤第21-22页
   ·产能优化和设备维护的理论与方法第22-28页
     ·约束理论第22-24页
     ·TPM 方法第24-26页
     ·线性规划理论第26-28页
   ·本章小结第28-29页
第3章 设备调试流程及决策的分析第29-36页
   ·I 公司背景介绍第29页
   ·项目背景介绍及瓶颈工序的确定第29-32页
   ·设备需求计算第32-33页
   ·调试设备的日程安排第33-34页
   ·调试决策流程第34-35页
   ·本章小结第35-36页
第4章 设备需求计算与调试优化决策模型第36-46页
   ·优化模型建立第36页
   ·优化模型的算法设计第36-38页
   ·优化模型的应用第38-43页
   ·优化结果的分析第43页
   ·优化模型的效果和总结第43-45页
     ·优化的结果分析第43-44页
     ·优化模型的总结第44-45页
   ·模型的推广与应用第45页
   ·本章小结第45-46页
第5章 设备维护的改善策略第46-58页
   ·设备的预防性维护第46-48页
     ·预防性维护的重要性第46页
     ·预防性维护的目的第46-47页
     ·预防性维护的方法和流程第47页
     ·预防性维护的实施第47-48页
   ·设备高精度维护小组的建立及职责第48-49页
   ·建立故障维修体系第49-53页
     ·故障维修标准流程第49-51页
     ·“WHY”分析法第51-52页
     ·维修记录分析第52页
     ·故障分析第52-53页
   ·人员的培训与激励第53-54页
   ·设备预防性维护日程安排的改进第54-55页
   ·检测设备的技术改进第55-57页
     ·背景及问题描述第55-56页
     ·方案设计第56-57页
     ·改进成果第57页
   ·本章小结第57-58页
第6章 结论及展望第58-60页
参考文献第60-62页
致谢第62-63页
攻读学位期间发表的学术论文目录第63页

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