摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
引言 | 第10-11页 |
1 文献综述 | 第11-25页 |
1.1 N_2O的来源与危害 | 第11-12页 |
1.2 N_2O的消除方法 | 第12-13页 |
1.3 直接催化分解N_2O催化剂 | 第13-20页 |
1.3.1 负载型贵金属催化剂 | 第13页 |
1.3.2 金属氧化物催化剂 | 第13页 |
1.3.3 杂原子分子筛催化剂 | 第13-20页 |
1.4 SUZ-4分子筛简介 | 第20-24页 |
1.4.1 SUZ-4分子筛的骨架结构 | 第20-22页 |
1.4.2 SUZ-4分子筛的合成现状 | 第22-23页 |
1.4.3 SUZ-4分子筛的催化应用 | 第23-24页 |
1.5 选题依据及研究内容 | 第24-25页 |
2 实验部分 | 第25-30页 |
2.1 主要实验药品和仪器 | 第25-26页 |
2.1.1 实验药品 | 第25页 |
2.1.2 实验仪器 | 第25-26页 |
2.2 催化剂的制备 | 第26-28页 |
2.2.1 水热法合成SUZ-4 | 第26-27页 |
2.2.2 水热法合成Fe-SUZ-4 | 第27页 |
2.2.3 H-Fe-SUZ-4分子筛的制备 | 第27页 |
2.2.4 活性测试 | 第27-28页 |
2.3 主要表征手段 | 第28-30页 |
2.3.1 X射线粉末衍射表征(XRD) | 第28-29页 |
2.3.2 场发射扫描电镜(SEM) | 第29页 |
2.3.3 热重分析(TG/DTA) | 第29页 |
2.3.4 比表面积和孔体积测定(BET) | 第29页 |
2.3.5 傅里叶变换红外光谱(FTIR) | 第29页 |
2.3.6 紫外可见漫反射光谱(UV-Vis) | 第29页 |
2.3.7 程序升温还原(H_2-TPR) | 第29-30页 |
3 SUZ-4分子筛的合成 | 第30-35页 |
3.1 引言 | 第30页 |
3.2 SUZ-4分子筛的合成条件考察 | 第30-32页 |
3.2.1 不同晶化时间的SUZ-4样品的XRD分析 | 第30-31页 |
3.2.2 改变初始凝胶配比对SUZ-4合成的影响 | 第31-32页 |
3.3 扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第32-33页 |
3.4 热重分析(TG) | 第33-34页 |
3.5 N_2吸附测定(BET) | 第34页 |
3.6 本章小结 | 第34-35页 |
4 Fe-SUZ-4分子筛的合成 | 第35-53页 |
4.1 引言 | 第35页 |
4.2 在180℃合成的Fe-SUZ-4的相关表征 | 第35-50页 |
4.2.1 不同晶化时间的Fe-SUZ-4的XRD分析 | 第35-37页 |
4.2.2 不同晶化时间的Fe-SUZ-4的UV-Vis分析 | 第37-38页 |
4.2.3 不同晶化时间的Fe-SUZ-4的SEM分析 | 第38-40页 |
4.2.4 比表面积(BET)分析 | 第40-41页 |
4.2.5 热重(TG)分析 | 第41页 |
4.2.6 不同处理条件对骨架铁的影响 | 第41-43页 |
4.2.7 SiO_2/Al_2O_3比对Fe-SUZ-4的影响 | 第43页 |
4.2.8 K_2O/SiO_2比对Fe-SUZ-4的影响 | 第43-44页 |
4.2.9 Si/Fe比对Fe-SUZ-4的影响 | 第44-45页 |
4.2.10 不同Si/Fe比的Fe-SUZ-4的UV-vis分析 | 第45-46页 |
4.2.11 高铁含量(Si/Fe=20)Fe-SUZ-4的相关表征 | 第46-48页 |
4.2.12 不同Si/Fe比的Fe-SUZ-4的FT-IR分析 | 第48-49页 |
4.2.13 不同Si/Fe比的Fe-SUZ-4的SEM分析 | 第49-50页 |
4.3 不同晶化温度合成的Fe-SUZ-4的相关表征 | 第50-51页 |
4.3.1 不同晶化时间的Fe-SUZ-4的XRD分析 | 第50-51页 |
4.3.2 不同晶化温度的SEM对比图 | 第51页 |
4.4 本章小结 | 第51-53页 |
5 Fe-SUZ-4分子筛催化分解N_2O的活性研究 | 第53-61页 |
5.1 引言 | 第53页 |
5.2 Si/Fe比对催化活性的影响 | 第53-57页 |
5.3 晶化温度对催化活性的影响 | 第57-58页 |
5.4 活化工艺对催化活性的影响 | 第58-60页 |
5.5 本章小结 | 第60-61页 |
结论 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-71页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |