基于状态空间模型的非均匀采样系统的辩识方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-14页 |
| 1.1.1 基于子空间方法的系统辨识 | 第10-13页 |
| 1.1.2 基于递阶原理的系统辨识 | 第13-14页 |
| 1.2 主要工作内容 | 第14-16页 |
| 2 非均匀采样系统的建模方案 | 第16-24页 |
| 2.1 问题的描述 | 第16-18页 |
| 2.2 状态空间模型的建立 | 第18-24页 |
| 2.2.1 非均匀周期刷新-非均匀周期采样方案 | 第18-20页 |
| 2.2.2 周期刷新-非均匀周期采样方案 | 第20-21页 |
| 2.2.3 非均匀周期刷新-周期采样方案 | 第21-24页 |
| 3 基于子空间技术的基础知识 | 第24-30页 |
| 3.1 正交投影 | 第24页 |
| 3.2 斜向投影 | 第24-25页 |
| 3.3 统计工具 | 第25-26页 |
| 3.4 基本矩阵介绍 | 第26-30页 |
| 4 基于子空间方法的非均匀采样系统辨识研究 | 第30-46页 |
| 4.1 问题的描述 | 第30-31页 |
| 4.2 基于子空间技术的非均匀采样系统辨识 | 第31-34页 |
| 4.2.1 状态估计值求解状态空间方程 | 第31-33页 |
| 4.2.2 能观性矩阵求解状态空间方程 | 第33-34页 |
| 4.3 子空间辨识方法的基本步骤 | 第34-35页 |
| 4.4 仿真实例 | 第35-46页 |
| 4.4.1 非均匀周期刷新-非均匀周期采样系统 | 第35-39页 |
| 4.4.2 周期刷新-非均匀周期采样系统 | 第39-42页 |
| 4.4.3 非均匀周期刷新-周期采样系统 | 第42-46页 |
| 5 基于递阶原理的非均匀采样系统辨识 | 第46-61页 |
| 5.1 问题的描述 | 第46-47页 |
| 5.2 基于奇异值分解的状态估计与参数辨识 | 第47-49页 |
| 5.3 收敛性证明 | 第49-52页 |
| 5.4 递阶辨识仿真结果 | 第52-56页 |
| 5.5 工业仿真 | 第56-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
