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低beta超导腔体的测试研究

致谢第1-7页
摘要第7-9页
ABSTRACT第9-14页
第一章 绪论第14-17页
第二章 超导腔体工作原理以及加工和表面处理第17-42页
   ·超导腔体工作原理第17-33页
     ·射频谐振腔概述第17-19页
     ·超导体金属铌第19-20页
     ·射频电场加速粒子原理第20-28页
     ·同轴线型低beta超导腔体参数第28-32页
     ·同轴线型低beta超导腔体设计概论第32-33页
     ·使用超导腔体的优势第33页
   ·纯铌超导腔体加工和表面处理第33-42页
     ·纯铌超导腔体加工概述第34-36页
     ·纯铌超导腔体表面处理概述第36-42页
第三章 超导腔体测试原理第42-75页
   ·射频测量基础第42-54页
     ·传输线方程第42-44页
     ·无损耗传输线的终端负载与射频反射参数第44-45页
     ·射频系统传输参数第45-47页
     ·射频网络分析与S参数第47-48页
     ·射频系统的50Ω特性阻抗第48-49页
     ·射频频率和功率的测量第49-54页
   ·谐振腔的功率耦合第54-59页
     ·外部负载与谐振腔的耦合第54-56页
     ·外部负载的耦合状态第56-58页
     ·前向功率耦合器与耦合探针第58-59页
   ·超导腔体的测量第59-69页
     ·超导腔体的常温态测量第59-63页
     ·超导腔体的超导态测量第63-69页
   ·超导腔体的频率锁定第69-75页
     ·超导腔体频率控制概述第69-70页
     ·VCO-PLL 锁频原理第70-72页
     ·VCO-PLL 仿真分析第72-75页
第四章 低 beta 超导腔体的测试系统设计第75-92页
   ·用于低 beta 超导腔体的垂直测试系统设计第75-89页
     ·基础设施建设第75-77页
     ·测试系统的外围设备第77-81页
     ·测试系统的射频低电平硬件设计第81-85页
     ·测试系统的测试软件设计第85-89页
   ·用于低 beta 超导腔体的水平测试系统设计第89-92页
     ·系统整体构成第89-90页
     ·快连锁保护第90-92页
第五章 IMP-HWR010-S 腔体的测试方法与测量结果第92-116页
   ·IMP-HWR010-S 超导腔体参数指标第92-93页
   ·外部 Q 值的测量与耦合天线确定第93-99页
   ·测试的降温过程第99-100页
   ·测试线缆校准第100-106页
   ·IMP-HWR010-S 腔体 df/dP 测量第106-108页
   ·IMP-HWR010-S 腔体的暂态测量第108-111页
   ·IMP-HWR010-S 腔体的稳态测量第111-114页
   ·IMP-HWR010-S 腔体的洛仑兹失谐测量第114-116页
第六章 物理现象分析与锻炼技术讨论第116-134页
   ·多次电子倍增效应第116-120页
   ·场致发射第120-121页
   ·失超第121-124页
   ·超导腔体的受迫振动效应第124-130页
     ·受迫振动的动力学模型第124-125页
     ·并联谐振电路的受迫振动第125-128页
     ·超导腔体的受迫振动第128-130页
   ·低 beta 超导腔体锻炼技术讨论第130-134页
     ·低场区多次电子倍增效应的锻炼第130-132页
     ·中高场区的高功率脉冲锻炼第132-134页
第七章 结论与展望第134-136页
   ·结论第134页
   ·未来工作展望第134-136页
参考文献第136-140页
作者简历及在学期间发表的学术论文与研究成果第140页

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