| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-23页 |
| ·引言 | 第12-13页 |
| ·ZnO压敏陶瓷 | 第13-19页 |
| ·ZnO晶格结构 | 第13页 |
| ·ZnO能带结构和缺陷 | 第13-15页 |
| ·ZnO压敏陶瓷的微观结构 | 第15-16页 |
| ·ZnO压敏陶瓷的导电机理 | 第16-18页 |
| ·ZnO压敏陶瓷的压敏效应原理 | 第18-19页 |
| ·ZnO压敏电阻器的电学性能参数 | 第19-21页 |
| ·ZnO压敏陶瓷国内外发展及研究现状 | 第21-22页 |
| ·本论文主要主要研究方法、内容及意义 | 第22-23页 |
| 第二章 正电子湮没技术原理及方法 | 第23-35页 |
| ·引言 | 第23-24页 |
| ·正电子湮没技术原理 | 第24-28页 |
| ·正电子湮没过程 | 第24-25页 |
| ·正电子在固体中的动力学 | 第25-26页 |
| ·正电子在固体材料中的注入深度 | 第26-27页 |
| ·正电子的湮没率和电子密度 | 第27-28页 |
| ·正电子湮没实验技术 | 第28-35页 |
| ·正电子源 | 第28-29页 |
| ·正电子湮没寿命测量 | 第29-32页 |
| ·正电子湮没Doppler展宽测量 | 第32-35页 |
| 第三章 ZnO压敏陶瓷制备实验过程 | 第35-41页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·实验原料和实验设备 | 第35-36页 |
| ·实验原料 | 第35-36页 |
| ·实验设备 | 第36页 |
| ·ZnO压敏陶瓷的实验配方 | 第36-38页 |
| ·ZnO压敏陶瓷的制备流程 | 第38-39页 |
| ·ZnO压敏电阻电性能及微结构测试 | 第39-41页 |
| 第四章 掺杂CuO、Nb_2O_5和Sb_2O_3对ZnO压敏陶瓷电性能及微结构影响 | 第41-56页 |
| ·引言 | 第41-42页 |
| ·CuO掺杂对ZnO压敏陶瓷电性能及微结构的影响 | 第42-46页 |
| ·电性能测试结果 | 第42-44页 |
| ·扫描电子显微镜测试结果 | 第44-45页 |
| ·X射线衍射分析测试结果 | 第45-46页 |
| ·测试结果分析与讨论 | 第46页 |
| ·Nb_2O_5掺杂对ZnO压敏陶瓷电性能及微结构的影响 | 第46-51页 |
| ·电性能测试结果 | 第46-48页 |
| ·扫描电子显微镜测试结果 | 第48-49页 |
| ·X射线衍射分析测试结果 | 第49页 |
| ·测试结果分析与讨论 | 第49-51页 |
| ·Sb_2O_3掺杂对ZnO压敏陶瓷电性能及微结构的影响 | 第51-55页 |
| ·电性能测试结果 | 第51-53页 |
| ·扫描电子显微镜测试结果 | 第53-54页 |
| ·X射线衍射分析测试结果 | 第54页 |
| ·测试结果分析与讨论 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第五章 ZnO压敏陶瓷正电子湮没研究 | 第56-66页 |
| ·引言 | 第56-57页 |
| ·CuO掺杂对ZnO压敏陶瓷正电子湮没寿命谱研究 | 第57-59页 |
| ·实验测试结果 | 第57-59页 |
| ·结果分析与讨论 | 第59页 |
| ·Nb_2O_5掺杂对ZnO压敏陶瓷正电子湮没寿命谱研究 | 第59-61页 |
| ·实验测试结果 | 第59-60页 |
| ·结果分析与讨论 | 第60-61页 |
| ·Sb_2O_3掺杂对ZnO压敏陶瓷正电子湮没寿命谱研究 | 第61-63页 |
| ·实验测试结果 | 第61-62页 |
| ·结果分析与讨论 | 第62-63页 |
| ·CuO掺杂对ZnO压敏陶瓷的符合Doppler展宽谱研究 | 第63-65页 |
| ·实验测试结果 | 第63-64页 |
| ·结果分析与讨论 | 第64-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·总结 | 第66-67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学位论文目录 | 第76页 |
