基于FPGA的ADC并行测试方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| ·课题的来源及意义 | 第8-9页 |
| ·混合信号集成电路测试概述 | 第9-10页 |
| ·ADC测试国内外研究现状 | 第10-15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15-17页 |
| 2 ADC测试基础 | 第17-30页 |
| ·ADC的参数定义 | 第17-21页 |
| ·量化误差 | 第17-18页 |
| ·静态参数 | 第18-21页 |
| ·动态参数 | 第21页 |
| ·ADC的测试激励方法 | 第21-23页 |
| ·ADC参数提取方法 | 第23-26页 |
| ·时域测试法 | 第23-25页 |
| ·频域测试法 | 第25-26页 |
| ·FPGA技术概述 | 第26-30页 |
| ·FPGA概述 | 第26-27页 |
| ·HDL语言简介 | 第27-28页 |
| ·IP复用技术 | 第28-30页 |
| 3 激励信号的产生 | 第30-44页 |
| ·测试任务的制定和系统框架 | 第30-31页 |
| ·测试激励产生算法和 FPGA实现 | 第31-42页 |
| ·正弦波合成法 | 第31-38页 |
| ·Sigma-Delta调制法 | 第38-42页 |
| ·小结 | 第42-44页 |
| 4 并行测试评估算法实现 | 第44-57页 |
| ·被测 ADC接口时序的 FPGA实现 | 第44-51页 |
| ·ADC的控制接口时序 | 第45-48页 |
| ·数据接口时序 | 第48-51页 |
| ·静态参数提取 | 第51-53页 |
| ·偏移量 OFFSET | 第52-53页 |
| ·增益 GAIN | 第53页 |
| ·动态参数提取 | 第53-56页 |
| ·信噪比SNR | 第55页 |
| ·总谐波失真 THD | 第55页 |
| ·信号与噪声失真比 SINAD | 第55-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 5 测试结果分析 | 第57-62页 |
| ·参数提取结果 | 第57-59页 |
| ·并行测试策略讨论 | 第59-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
