超声波热测量芯片TDC核的设计与实现
| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·选题背景 | 第11-12页 |
| ·时间间隔测量的应用及发展现状 | 第12-14页 |
| ·论文研究内容与安排 | 第14-15页 |
| 第二章 TDC测量原理与设计流程 | 第15-26页 |
| ·超声波热量表的测量原理 | 第15-17页 |
| ·基于环形延时链(RDL)的TDC测量原理 | 第17页 |
| ·TDC设计流程 | 第17-19页 |
| ·在ASIC设计流程中引入FPGA原型验证 | 第18-19页 |
| ·FPGA的基本结构 | 第19-23页 |
| ·FPGA开发工具介绍 | 第23-24页 |
| ·FPGA设计流程 | 第24-26页 |
| 第三章 TDC核总体设计 | 第26-42页 |
| ·TDC系统架构 | 第27-35页 |
| ·精细计数接口 | 第27-29页 |
| ·精细计数单元的架构 | 第29-31页 |
| ·粗计数器 | 第31-32页 |
| ·测量控制电路的架构 | 第32-33页 |
| ·内部寄存器组 | 第33-34页 |
| ·校准单元 | 第34页 |
| ·后处理单元 | 第34-35页 |
| ·环形延时链RDL的设计 | 第35-42页 |
| ·FPGA底层编辑器(FPGA EDITOR) | 第35-37页 |
| ·用FPGA EDITOR设计RDL | 第37-42页 |
| 第四章 TDC的逻辑综合 | 第42-61页 |
| ·综合的基本概念 | 第42-45页 |
| ·综合库 | 第45页 |
| ·设定综合约束 | 第45-53页 |
| ·设定设计环境 | 第45-48页 |
| ·设计约束 | 第48-53页 |
| ·设计划分与优化策略 | 第53-58页 |
| ·可综合设计与模块划分策略 | 第53-55页 |
| ·综合策略 | 第55-56页 |
| ·优化策略 | 第56-57页 |
| ·TDC芯片的综合策略 | 第57-58页 |
| ·逻辑综合结果分析 | 第58-61页 |
| 第五章 TDC的可测性设计(DFT) | 第61-72页 |
| ·DFT概述 | 第61页 |
| ·故障模型 | 第61-62页 |
| ·可测性结构设计 | 第62-65页 |
| ·可测性设计规则 | 第65-68页 |
| ·扫描测试结构的实现 | 第68-72页 |
| ·扫描测试设计的流程 | 第68-69页 |
| ·创建测试协议 | 第69页 |
| ·扫描链的插入 | 第69-70页 |
| ·检查测试覆盖率 | 第70-72页 |
| 结束语 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第79-80页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第80页 |
