首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--大规模集成电路、超大规模集成电路论文

基于LFSR重新播种的SoC测试数据压缩方法研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-12页
第一章 绪论第12-19页
   ·系统芯片测试概述第12-14页
   ·测试资源优化方法第14-16页
     ·测试集紧缩(test set compaction)第14页
     ·测试数据压缩(test data compression)第14-15页
     ·测试调度第15-16页
     ·低功耗测试第16页
   ·研究的意义和现状第16-17页
   ·本文的贡献及章节安排第17-19页
第二章 测试激励压缩方法第19-31页
   ·测试激励压缩方法分类第20-29页
     ·编码压缩方法第20-24页
     ·基于线性解压结构的压缩方法第24-27页
     ·广播式扫描压缩方法第27-29页
   ·测试激励压缩方法评价第29页
   ·测试激励压缩方法的工业应用第29-31页
第三章 LFSR重新播种方法第31-41页
   ·LFSR的结构及原理介绍第31-34页
     ·LFSR基本结构第31-33页
     ·LFSR的周期及本原多项式第33-34页
   ·LFSR重新播种及其改进方法第34-41页
     ·LFSR重新播种方法第34-37页
     ·多多项式 LFSRs重新播种方法第37-38页
     ·变长度种子 LFSRs重新播种方法第38-39页
     ·部分动态 LFSR重新播种方法第39-41页
第四章 基于部分测试向量切分的 LFSR重新播种方法第41-51页
   ·本方案的实现策略第41-43页
   ·本方案的关键问题探讨第43-46页
     ·切分策略分析第43-44页
     ·Gauss-Jordan消元法解方程组第44-46页
   ·整体综合过程第46-47页
   ·硬件解压结构第47-49页
   ·实验结果与分析第49-50页
   ·本方案小结第50-51页
第五章 结束语第51-53页
   ·本文的主要贡献第51页
   ·展望第51-53页
参考文献第53-59页
附录第59页
 附录一 在校期间发表的论文第59页
 附录二. 在校期间参与的科研项目第59页
 附录三. 实验环境及编制的软件第59页

论文共59页,点击 下载论文
上一篇:片上系统SoC测试数据分组压缩方法的研究
下一篇:PLC控制的絮凝剂自动配制系统的研究