片上系统SoC测试数据分组压缩方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·课题的研究背景及意义 | 第13-14页 |
| ·研究背景 | 第13-14页 |
| ·研究意义 | 第14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·课题来源、研究内容及创新点 | 第16-17页 |
| ·本论文各章节安排 | 第17-18页 |
| 第二章 SoC测试概述及测试数据压缩 | 第18-35页 |
| ·SoC测试概述 | 第18-20页 |
| ·什么是SoC测试 | 第18页 |
| ·SoC测试目的及测试过程 | 第18-20页 |
| ·SoC测试分类 | 第20页 |
| ·测试模式生成 | 第20-23页 |
| ·测试生成简介 | 第20-21页 |
| ·组合电路的测试生成 | 第21-22页 |
| ·时序电路的测试生成 | 第22-23页 |
| ·SoC测试数据压缩 | 第23-35页 |
| ·测试集生成算法压缩 | 第24-25页 |
| ·BIST压缩技术 | 第25-27页 |
| ·测试数据编码压缩技术 | 第27-28页 |
| ·基于统计编码的压缩方法 | 第28-31页 |
| ·基于游程编码的压缩技术 | 第31-34页 |
| ·多扫描链相容压缩 | 第34-35页 |
| 第三章 多扫描链测试集的分组标准向量压缩方法 | 第35-46页 |
| ·相容压缩技术 | 第35-36页 |
| ·分组标准向量差分压缩算法描述 | 第36-41页 |
| ·测试集分组相容压缩 | 第36-39页 |
| ·标准向量差分方法 | 第39-41页 |
| ·距离标记游程编码 | 第41页 |
| ·解压电路的结构及解压方法 | 第41-43页 |
| ·实验数据 | 第43-44页 |
| ·结论 | 第44-46页 |
| 第四章 测试数据分组字典统计编码压缩方法 | 第46-58页 |
| ·基于字典的统计编码 | 第46-47页 |
| ·分组字典统计编码算法描述 | 第47-51页 |
| ·测试数据分组划分 | 第47-48页 |
| ·字典统计编码 | 第48-51页 |
| ·组数号自动生成 | 第51页 |
| ·解压电路结构及解压过程 | 第51-52页 |
| ·区域分组字典统计编码 | 第52-54页 |
| ·实验结果 | 第54-57页 |
| ·结论 | 第57-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·全文总结 | 第58-59页 |
| ·展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录 | 第64页 |
