VLSI测试系统 直流参数测量子系统的实现

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-9页
第一章 绪论	第9-14页
·集成电路测试	第9-10页
·集成电路测试仪的诞生及发展现状	第10-12页
·集成电路测试仪的分类	第12页
·本文主要研究内容	第12-14页
第二章 数字集成电路测试系统组成结构	第14-25页
·SP-3160V系统简介	第14-15页
·系统工作原理	第15-16页
·SP-3160V系统结构	第16-25页
·系统主控计算机及外设	第17-18页
·地址/数据通道板	第18页
·数字参数测试通道板	第18-20页
·直流精密参数测试通道板	第20-22页
·模拟参数测量单元板(选件)	第22页
·测试板卡	第22-23页
·电源子系统	第23-25页
第三章 直流参数测量子系统的硬件实现	第25-60页
·直流参数测试	第25-27页
·直流参数测试的基本概念	第25页
·直流参数测试发展的特点	第25-26页
·直流参数测试项目	第26-27页
·直流参数测量子系统的结构	第27-60页
·PCI接口总线	第28-31页
·接口驱动芯片	第31-34页
·CPLD EPM7128s	第34-39页
·D/A转换模块	第39-44页
·PNU模块及DPS模块	第44-50页
·模数转换模块	第50-57页
·其他相关器件及应用电路	第57-60页
第四章 直流参数测量子系统中的软件设计	第60-65页
·硬件电路底层驱动	第60-61页
·系统误差校准	第61-65页
第五章 结果与展望	第65-70页
·施加电量与测量电量的量程	第65-66页
·测试精度	第66-68页
·程控电源(DPS1～4)	第67页
·精密直流测量单元(PMU1～2)	第67-68页
·展望	第68-70页
参考文献	第70-72页
致谢	第72页