基于荧光机理的光纤温度测量系统的研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
·引言 | 第9-11页 |
·荧光光纤温度传感器的研究现状 | 第11-14页 |
·荧光光纤温度传感器的发展历程 | 第11-13页 |
·荧光光纤温度传感器的分类 | 第13-14页 |
·课题研究的目的和意义 | 第14-15页 |
·课题研究的主要内容 | 第15-16页 |
第2章 荧光光纤测温系统的工作机理 | 第16-26页 |
·荧光概述 | 第16页 |
·荧光产生的机理 | 第16-19页 |
·光的吸收 | 第16-17页 |
·激发 | 第17-18页 |
·激发态分子的去活化 | 第18-19页 |
·荧光材料及其特性 | 第19-23页 |
·荧光材料 | 第19-21页 |
·荧光材料的特性 | 第21-23页 |
·荧光测温机理 | 第23-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第3章 荧光光纤测温系统的特性分析 | 第26-42页 |
·光纤 | 第26-30页 |
·光纤传输的原理 | 第26-28页 |
·光纤的传输特性 | 第28-30页 |
·激发光源 | 第30-33页 |
·半导体发光二极管 | 第31-33页 |
·半导体激光二极管 | 第33页 |
·光电检测器 | 第33-37页 |
·PIN 光电二极管 | 第35-36页 |
·光电二极管的特性 | 第36-37页 |
·光路耦合 | 第37-41页 |
·光纤与光源的耦合 | 第37-39页 |
·光纤与光纤的耦合 | 第39-40页 |
·光耦合器的特性 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第4章 荧光寿命锁相检测基本理论 | 第42-55页 |
·荧光寿命 | 第42-43页 |
·锁相环的基本工作原理 | 第43-50页 |
·锁相环的组成 | 第43-46页 |
·环路模型分析 | 第46-48页 |
·环路噪声分析 | 第48-50页 |
·荧光寿命锁相检测法 | 第50-54页 |
·基本的两相位锁定检测 | 第50-52页 |
·锁相原理检测荧光寿命 | 第52-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第5章 荧光光纤测温系统的设计与实验分析 | 第55-73页 |
·系统总体结构设计 | 第55-56页 |
·光纤探头的设计 | 第56-57页 |
·本系统选用的光纤 | 第57-59页 |
·光源及驱动电路的设计 | 第59-62页 |
·光电检测器与信号处理系统 | 第62-65页 |
·光电检测器及前置放大电路的设计 | 第62-63页 |
·滤波电路的设计 | 第63-64页 |
·锁相荧光寿命检测 | 第64-65页 |
·单片机系统设计 | 第65-67页 |
·MSP430 系列单片机简介 | 第65页 |
·单片机软件设计 | 第65-67页 |
·实验数据与分析 | 第67-72页 |
·试验结果与分析 | 第67-71页 |
·系统误差分析 | 第71-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结论 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第79-80页 |
致谢 | 第80-81页 |
作者简介 | 第81页 |