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SOI横向功率器件的高压互连效应的研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
专用术语注释表第10-12页
第一章 绪论第12-26页
    1.1 功率器件发展概述第12-13页
    1.2 横向功率器件研究现状第13-19页
        1.2.1 SOI功率集成技术概述第13-15页
        1.2.2 横向耐压技术第15-19页
    1.3 高压互连结构第19-25页
        1.3.1 高压互连效应第20页
        1.3.2 改善高压互连效应的技术第20-25页
    1.4 本文的主要工作及创新点第25-26页
第二章 高压互连线效应第26-39页
    2.1 基本结构第26-27页
    2.2 高压互连对电场分布的影响第27-34页
        2.2.1 二维仿真模拟第27-31页
        2.2.2 三维仿真模拟第31-34页
    2.3 考虑高压互连线时器件参数优化第34-38页
        2.3.1 基本结构参数分析第34-37页
        2.3.2 互连线结构参数分析第37-38页
    2.4 本章小结第38-39页
第三章 高压互连结构解析模型第39-54页
    3.1 势场分布模型第39-46页
    3.2 击穿电压模型第46-47页
    3.3 器件结构参数对器件击穿特性的影响第47-52页
        3.3.1 基本结构参数分析第47-50页
        3.3.2 互连线结构参数分析第50-52页
    3.4 本章小结第52-54页
第四章 具有高K介质柱的三维高压互连结构第54-71页
    4.1 器件结构及其耐压机理第54-59页
        4.1.1 器件结构第54-55页
        4.1.2 耐压机理第55-59页
    4.2 二维解析模型第59-61页
    4.3 耐压特性分析第61-70页
        4.3.1 基本结构参数分析第62-68页
        4.3.2 互连线结构参数分析第68-70页
    4.4 本章小结第70-71页
第五章 总结与展望第71-72页
参考文献第72-77页
附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文第77-78页
附录2 攻读硕士学位期间申请的专利第78-79页
致谢第79页

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