| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 概论 | 第12-22页 |
| 1.1 引言 | 第12-13页 |
| 1.2 端射天线阵列的研究背景 | 第13-18页 |
| 1.2.1 端射阵列的研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2.2 端射天线的研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2.3 端射天线阵列的应用 | 第16-17页 |
| 1.2.4 阵列耦合分析校正的研究背景 | 第17-18页 |
| 1.3 目前研究中存在的主要问题 | 第18-19页 |
| 1.4 本文的创新点与内容安排 | 第19-22页 |
| 第二章 端射阵列的基本原理与特性研究 | 第22-61页 |
| 2.1 辐射源实现端射的基本原理 | 第22-29页 |
| 2.1.1 基本线源的辐射 | 第22-26页 |
| 2.1.2 端射的汉森-伍德沃德条件 | 第26-29页 |
| 2.1.3 端射线源的慢波特性 | 第29页 |
| 2.2 具有慢波特性的端射线阵 | 第29-37页 |
| 2.2.1 普通均匀端射阵 | 第30-32页 |
| 2.2.2 增强方向性端射阵 | 第32-35页 |
| 2.2.3 非均匀端射线阵 | 第35-37页 |
| 2.3 端射线阵的综合 | 第37-45页 |
| 2.3.1 道尔夫-切比雪夫综合法 | 第37-39页 |
| 2.3.2 切比雪夫阵的最大间距约束条件 | 第39-41页 |
| 2.3.3 切比雪夫端射阵的波束展宽因子 | 第41-45页 |
| 2.4 端射阵列耦合特性的分析 | 第45-60页 |
| 2.4.1 偶极子端射阵耦合现象 | 第46-48页 |
| 2.4.2 端射阵耦合问题的解释 | 第48-60页 |
| 2.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第三章 端射天线组成端射阵列的耦合性质 | 第61-91页 |
| 3.1 八木天线端射阵列中的耦合现象 | 第63-70页 |
| 3.1.1 八木天线端射阵普通端射条件下的耦合现象 | 第64-65页 |
| 3.1.2 单端.激励的八木天线端射阵 | 第65-68页 |
| 3.1.3 经典补偿/校正方法的效果 | 第68-70页 |
| 3.2 八木天线端射阵列特殊耦合现象的解释 | 第70-79页 |
| 3.2.1 端射天线端射阵的简易模型与网络矩阵 | 第71-74页 |
| 3.2.2 对辐射特性不互易问题的解释 | 第74-75页 |
| 3.2.3 对耦合辐射场与直接辐射场不相似问题的解释 | 第75-76页 |
| 3.2.4 对端射天线阵列耦合强度前后不同的解释 | 第76-79页 |
| 3.3 阵列端.信号校正方法的失效 | 第79-89页 |
| 3.3.1 端.网络模型的转换及端.特性分析 | 第80-85页 |
| 3.3.2 经典校正方法失效的电流解释 | 第85-87页 |
| 3.3.3 校正方法失效的电压解释 | 第87-89页 |
| 3.3.4 阵列天线辐射特性的可校正条件 | 第89页 |
| 3.4 本章小结 | 第89-91页 |
| 第4章 端射天线端射阵耦合特性的估计方法 | 第91-150页 |
| 4.1 端射天线端射阵的迭代估算法 | 第91-110页 |
| 4.1.1 阵列耦合的动态过程 | 第92-94页 |
| 4.1.2 基于耦合动态过程的迭代计算 | 第94-95页 |
| 4.1.3 针对端射天线端射阵的特殊处理 | 第95-102页 |
| 4.1.4 简化迭代估算的试验验证 | 第102-108页 |
| 4.1.5 迭代估算法的特点 | 第108-110页 |
| 4.2 八木天线端射阵的综合测试法 | 第110-138页 |
| 4.2.1 八木天线端射阵直接辐射场的一致性 | 第111-115页 |
| 4.2.2 八木天线端射阵耦合辐射场的一致性 | 第115-118页 |
| 4.2.3 八木天线端射阵耦合辐射场的耦合系数 | 第118-122页 |
| 4.2.4 八木天线耦合辐射的散射场近似 | 第122-128页 |
| 4.2.5 八木天线端射阵耦合系数的测试方法 | 第128-133页 |
| 4.2.6 八木天线端射阵辐射场的综合测试法 | 第133-138页 |
| 4.3 八木天线端射阵的性能评估与近似校正 | 第138-148页 |
| 4.3.1 八木天线端射阵的波束畸变 | 第138-143页 |
| 4.3.2 八木天线端射阵的近似校正 | 第143-148页 |
| 4.4 本章小结 | 第148-150页 |
| 第五章 平板端射天线及阵列的研究 | 第150-186页 |
| 5.1 导体地面对端射天线性能的影响 | 第151-164页 |
| 5.1.1 平板端射天线的辐射场分量 | 第151-153页 |
| 5.1.2 简化的双线模型 | 第153-160页 |
| 5.1.3 平板端射天线的最佳相位常数选择 | 第160-164页 |
| 5.2 平板端射天线组成端射阵 | 第164-185页 |
| 5.2.1 平板端射天线端射阵的基本性质 | 第165-168页 |
| 5.2.2 平板端射天线在端射阵中的耦合分量 | 第168-177页 |
| 5.2.3 平板端射天线端射阵的耦合分析与近似校正 | 第177-185页 |
| 5.3 本章小结 | 第185-186页 |
| 第六章 端射相控阵原理样机的研制与测试 | 第186-219页 |
| 6.1 端射相控阵原理样机性能评估 | 第186-194页 |
| 6.1.1 相控扫描对扩展为平面端射阵的需求 | 第186-188页 |
| 6.1.2 平面端射阵列的工作性能评估 | 第188-194页 |
| 6.2 阵列的研制与加工 | 第194-200页 |
| 6.2.1 平板端射天线单元的实现 | 第194-198页 |
| 6.2.2 阵列整架的结构设计加工 | 第198-200页 |
| 6.3 端射相控阵原理样机的综合测试 | 第200-218页 |
| 6.3.1 均匀激励测试全阵方向性增益 | 第201-203页 |
| 6.3.2 阵列方位面副瓣抑制 | 第203-206页 |
| 6.3.3 变换组阵规模的阵列性能 | 第206-212页 |
| 6.3.4 方位面一维大范围相控扫描 | 第212-218页 |
| 6.4 本章小结 | 第218-219页 |
| 结论 | 第219-222页 |
| 参考文献 | 第222-229页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第229-230页 |
| 致谢 | 第230页 |
