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基于CMOS工艺的太赫兹成像芯片研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-13页
    1.1 研究背景和意义第9-10页
        1.1.1 太赫兹电磁波的特点第9页
        1.1.2 太赫兹电磁波的产生和探测第9-10页
        1.1.3 太赫兹成像技术的应用前景第10页
    1.2 基于CMOS工艺的太赫兹成像技术的研究现状第10-12页
    1.3 论文主要工作和组织结构第12-13页
第二章 基于CMOS工艺的太赫兹检波器原理第13-21页
    2.1 基于流体力学的MOSFET太赫兹检波原理第13-16页
    2.2 基于非准静态模型的MOSFET太赫兹检波原理第16-19页
        2.2.1 阻性自混频的准静态分析第17-18页
        2.2.2 分布式阻性自混频的非准静态分析第18-19页
    2.3 本章小结第19-21页
第三章 CMOS片上太赫兹成像单元天线的研究第21-31页
    3.1 实现片上天线的优点和难点第21-22页
        3.1.1 实现片上天线的优点第21页
        3.1.2 实现片上天线的难点第21-22页
    3.2 微带馈电矩形贴片天线基本原理第22-24页
    3.3 微带馈电矩形贴片天线设计第24-29页
    3.4 天线与检波单元的阻抗匹配第29-30页
    3.5 本章小结第30-31页
第四章 CMOS运算放大器的研究第31-47页
    4.1 研究背景第31-33页
        4.1.1 运算放大器的基本原理第31-32页
        4.1.2 运算放大器的性能指标第32-33页
        4.1.3 本文运算放大器设计的基本思路第33页
    4.2 两级运算放大器的设计第33-35页
        4.2.1 30dB两级运算放大器设计第33-34页
        4.2.2 42dB两级运算放大器设计第34-35页
    4.3 反馈型两级运算放大器设计第35-37页
        4.3.1 30dB电阻反馈型两级运算放大器设计第35-36页
        4.3.2 31dB电容反馈型两级运算放大器设计第36-37页
    4.4 低噪声运算放大器设计第37-39页
    4.5 CMOS运算放大器的测试第39-45页
        4.5.1 30dB两级运算放大器的测试第41页
        4.5.2 42dB两级运算放大器的测试第41-42页
        4.5.3 30dB电阻反馈型两级运算放大器的测试第42-43页
        4.5.4 31dB电容反馈型两级运算放大器的测试第43页
        4.5.5 32dB低噪声运算放大器的测试第43-44页
        4.5.6 CMOS运算放大器的测试结果与仿真结果的比较第44-45页
    4.6 本章小结第45-47页
第五章 CMOS太赫兹成像单元与阵列研究第47-69页
    5.1 不带天线的太赫兹成像单元的设计第47-50页
        5.1.1 带两级运算放大器的成像单元设计第47-48页
        5.1.2 带反馈型运算放大器的成像单元设计第48-49页
        5.1.3 带低噪声运算放大器的成像单元设计第49-50页
    5.2 带天线的太赫兹成像单元的设计第50-51页
    5.3 CMOS太赫兹成像阵列的设计第51-55页
        5.3.1 2×2太赫兹成像阵列系统架构第51页
        5.3.2 行列控制信号产生电路设计第51-53页
        5.3.3 2×2太赫兹成像阵列电路设计第53-55页
    5.4 不带天线的太赫兹成像单元的测试第55-65页
        5.4.1 带30dB两级运算放大器的成像单元的测试第56-60页
        5.4.2 带42dB两级运算放大器的成像单元的测试第60-63页
        5.4.3 带31dB电容反馈型运算放大器的成像单元的测试第63-65页
    5.5 2×2太赫兹成像阵列的测试第65-67页
        5.5.1 行列控制信号产生电路的测试第65-66页
        5.5.2 阵列逻辑功能的测试第66-67页
    5.6 本章小结第67-69页
第六章 总结与展望第69-71页
致谢第71-73页
参考文献第73-77页
作者简介第77页

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