| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 近场技术的国内外发展状况 | 第12-14页 |
| 1.3 本文的主要工作及结构安排 | 第14-16页 |
| 第2章 平面近场测量的基本理论 | 第16-24页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 平面波展开理论 | 第16-18页 |
| 2.3 平面近场测量基本原理 | 第18-20页 |
| 2.4 近场扫描间隔原则及扫描面选取 | 第20-21页 |
| 2.4.1 扫描间隔选取 | 第20页 |
| 2.4.2 扫描面选取 | 第20-21页 |
| 2.5 探头补偿原理 | 第21-23页 |
| 2.6 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 平面近场测试系统研究 | 第24-33页 |
| 3.1 测试暗室系统 | 第24页 |
| 3.2 天线自动测试系统的组成 | 第24-27页 |
| 3.2.1 测试系统概述 | 第24-26页 |
| 3.2.2 测试系统的组成 | 第26-27页 |
| 3.3 天线方向图测试原理及实现 | 第27-28页 |
| 3.4 天线增益测试原理及实现 | 第28-32页 |
| 3.4.1 直接法计算增益 | 第29-30页 |
| 3.4.2 比较法计算增益 | 第30页 |
| 3.4.3 外推法计算增益 | 第30-32页 |
| 3.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 平面近场测量中采样探头研究 | 第33-46页 |
| 4.1 概述 | 第33页 |
| 4.2 矩形开口波导探头特性 | 第33-34页 |
| 4.3 探头方向图的公式法 | 第34-38页 |
| 4.3.1 E面电场法 | 第34-35页 |
| 4.3.2 边缘电流法 | 第35-36页 |
| 4.3.3 边缘电流逼近法 | 第36-37页 |
| 4.3.4 探头公式法结果比较 | 第37-38页 |
| 4.4 探头方向图的外推测试法 | 第38-41页 |
| 4.4.1 探头方向图测试原理 | 第38页 |
| 4.4.2 探头方向图测试过程 | 第38-39页 |
| 4.4.3 探头方向图测试结果 | 第39-41页 |
| 4.5 探头方向图的仿真 | 第41-44页 |
| 4.5.1 HFSS软件简介 | 第41页 |
| 4.5.2 建立模型 | 第41-42页 |
| 4.5.3 仿真参数设置 | 第42页 |
| 4.5.4 仿真结果分析 | 第42-44页 |
| 4.6 探头方向图结果比较 | 第44-45页 |
| 4.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 平面近场测量中探头补偿技术研究 | 第46-57页 |
| 5.1 待测天线模型 | 第46页 |
| 5.2 平面近场测试系统补偿 | 第46-48页 |
| 5.3 探头公式法补偿 | 第48-51页 |
| 5.3.1 E面电场法补偿结果 | 第48-49页 |
| 5.3.2 Stratton-Chu积分法补偿结果 | 第49-50页 |
| 5.3.3 边缘电流逼近法补偿结果 | 第50页 |
| 5.3.4 探头公式法补偿结果比较 | 第50-51页 |
| 5.4 外推法测试补偿 | 第51-55页 |
| 5.4.1 外推法测试分析 | 第51-52页 |
| 5.4.2 外推法补偿过程 | 第52-55页 |
| 5.5 探头仿真法补偿 | 第55-56页 |
| 5.5.1 探头仿真法分析 | 第55-56页 |
| 5.5.2 探头仿真法补偿过程 | 第56页 |
| 5.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 攻读硕士期间发表（含录用）的学术论文 | 第63页 |