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银掺杂二氧化钛半导体薄膜的SPR性能研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-15页
    1.1 研究的目的和意义第10-11页
    1.2 表面等离子体共振技术国内外研究的现状及分析第11-13页
        1.2.1 基于 SPR 技术传感器的研究与发展第11页
        1.2.2 金属薄膜色散特性的研究现状第11-12页
        1.2.3 金属掺杂半导体薄膜的研究现状第12-13页
    1.3 课题研究的主要内容第13-15页
第2章 表面等离子体共振基本原理第15-27页
    2.1 表面等离子体共振第15-19页
    2.2 SPR 的检测方式第19-22页
    2.3 SPR 的传感性能第22-26页
        2.3.1 影响 SPR 传感性能的因素第22页
        2.3.2 SPR 反射率的计算第22-23页
        2.3.3 SPR 反射曲线的研究第23-26页
    2.4 本章小结第26-27页
第3章 金属薄膜色散理论的研究与应用第27-35页
    3.1 经典的 Drude 和 Drude-Lorentz 模型第27-28页
    3.2 FS-DL 模型第28-31页
    3.3 FS-DL 理论在 SPR 计算中的应用第31-33页
    3.4 本章小结第33-35页
第4章 银掺杂二氧化钛薄膜的制备与 SPR 性能测试第35-58页
    4.1 溶胶-凝胶法及水热法简介第35-36页
        4.1.1 溶胶-凝胶法第35-36页
        4.1.2 水热法第36页
    4.2 实验过程第36-39页
        4.2.1 实验原料及设备第36-37页
        4.2.2 实验操作及流程第37-39页
    4.3 溶胶-凝胶法制备银掺杂二氧化钛粉体的实验研究第39-45页
        4.3.1 退火曲线第39-42页
        4.3.2 加水量及退火温度对二氧化钛晶型的影响第42-45页
    4.4 银掺杂二氧化钛半导体粉体及薄膜的表征与分析第45-53页
        4.4.1 溶胶-凝胶法制备粉体及薄膜的表征第45-51页
        4.4.2 水热法制备粉体及薄膜的表征第51-53页
    4.5 银掺杂二氧化钛薄膜 SPR 性能测试第53-56页
        4.5.1 SPR 检测装置光路设计及测试第53-55页
        4.5.2 掺银二氧化钛薄膜 SPR 性能测试第55-56页
    4.6 本章小结第56-58页
结论第58-59页
参考文献第59-64页
攻读硕士期间发表的论文第64-65页
致谢第65页

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