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基于FPGA的基带信号发生器的设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-15页
    1.1 论文研究背景第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-11页
    1.3 论文研究内容与设计指标第11-12页
        1.3.1 研究内容第11-12页
        1.3.2 设计指标第12页
    1.4 论文章节安排第12-15页
第二章 基带信号发生器设计理论基础第15-25页
    2.1 直接数字波形合成技术第15-17页
    2.2 现场可编程门阵列概述第17-21页
        2.2.1 SOPC技术第18-19页
        2.2.2 Nios Ⅱ嵌入式系统设计第19-21页
    2.3 基带信号发生器误差分析第21-24页
        2.3.1 幅度量化误差第21-23页
        2.3.2 DAC非线性误差第23-24页
    2.4 本章小结第24-25页
第三章 基于Nios Ⅱ的序列波形合成方案设计及基带信号发生器误差补偿第25-37页
    3.1 基于Nios Ⅱ的序列波形合成技术第25-30页
        3.1.1 序列波形合成技术第25-26页
        3.1.2 基于FPAG的序列波形合成方法分析第26-27页
        3.1.3 基于NiosⅡ的序列波形合成方法实现第27-30页
    3.2 基带信号发生器误差补偿第30-35页
        3.2.1 DAC非线性误差补偿方法分析第30-31页
        3.2.2 基于数字预失真的误差补偿算法第31-35页
    3.3 本章小结第35-37页
第四章 基带信号发生器的系统设计第37-55页
    4.1 系统整体结构第37-38页
    4.2 高速数模转换电路设计第38-42页
    4.3 FPGA内部关键模块设计第42-52页
        4.3.1 数据存储器SDRAM控制模块第43-45页
        4.3.2 异步FIFO模块第45-48页
        4.3.3 直接数字波形合成模块第48-50页
        4.3.4 串口通信模块第50-52页
    4.4 上位机程序设计第52-54页
    4.5 本章小结第54-55页
第五章 系统测试与验证第55-67页
    5.1 系统测试平台搭建第55-57页
    5.2 系统指标测试第57-66页
        5.2.1 信号输出功能及工作频率范围测试第57-59页
        5.2.2 序列波形合成功能测试第59-61页
        5.2.3 DAC非线性误差补偿测试第61-62页
        5.2.4 EVM测试第62-64页
        5.2.5 动态范围(SFDR)测试第64-66页
    5.3 本章小结第66-67页
第六章 总结和展望第67-69页
    6.1 总结第67-68页
    6.2 展望第68-69页
参考文献第69-73页
致谢第73-75页
攻读硕士学位期间发表的论文第75页

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