变压器式可控电抗器损耗与温升研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 论文研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究概况 | 第11-12页 |
| 1.2.1 可控电抗器 | 第11页 |
| 1.2.2 课题组CRT研究概况 | 第11-12页 |
| 1.2.3 电力设备的损耗和温升 | 第12页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第12-14页 |
| 2 CRT基本理论与结构参数 | 第14-24页 |
| 2.1 CRT基本工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 典型CRT结构 | 第15-17页 |
| 2.2.1 同心式结构 | 第15-16页 |
| 2.2.2 分裂式磁集成结构 | 第16-17页 |
| 2.3 CRT结构参数 | 第17-24页 |
| 2.3.1 同心式CRT | 第17-20页 |
| 2.3.2 分裂式CRT | 第20-24页 |
| 3 CRT关键参数计算 | 第24-32页 |
| 3.1 解析计算方法 | 第24-27页 |
| 3.1.1 自互电抗法 | 第24-26页 |
| 3.1.2 短路电抗法 | 第26-27页 |
| 3.2 有限元计算方法 | 第27-28页 |
| 3.3 额定容量运行时CRT等效短路阻抗计算 | 第28-29页 |
| 3.4 有限元法与解析法的比较 | 第29-32页 |
| 4 场路耦合计算电流 | 第32-42页 |
| 4.1 计算原理 | 第32-34页 |
| 4.2 实验研究 | 第34-36页 |
| 4.3 场路耦合算例 | 第36-42页 |
| 5 CRT损耗研究 | 第42-50页 |
| 5.1 损耗计算 | 第42-43页 |
| 5.2 损耗仿真 | 第43-50页 |
| 5.2.1 绕组损耗 | 第43-44页 |
| 5.2.2 铁心损耗 | 第44-50页 |
| 6 CRT温升分析 | 第50-62页 |
| 6.1 温升计算 | 第50-52页 |
| 6.1.1 温度场计算原理 | 第50-51页 |
| 6.1.2 绕组温升计算公式 | 第51-52页 |
| 6.2 温度场仿真 | 第52-58页 |
| 6.3 改进绕组布置 | 第58-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第68页 |
