低电压氧化物基纸张双电层薄膜晶体管
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-26页 |
| ·引言 | 第11-13页 |
| ·薄膜晶体管的工作原理以及发展 | 第13-18页 |
| ·薄膜晶体管的工作原理 | 第13-15页 |
| ·纸张薄膜晶体管的发展 | 第15-18页 |
| ·纸张薄膜晶体管的应用 | 第18-22页 |
| ·电子纸 | 第18-21页 |
| ·射频识别 | 第21-22页 |
| ·本文选题依据、意义以及研究内容 | 第22-26页 |
| ·本文选题的依据与意义 | 第22-24页 |
| ·研究内容 | 第24-26页 |
| 第2章 SiO_2与壳聚糖的制备与应用 | 第26-36页 |
| ·引言 | 第26-27页 |
| ·SiO_2固态电解质 | 第27-33页 |
| ·SiO_2固态电解质的制备过程 | 第27-28页 |
| ·Ca~(2+)引入SiO_2在TFT中的应用 | 第28-33页 |
| ·壳聚糖固态电解质 | 第33-35页 |
| ·壳聚糖固态电解质的制备过程 | 第33页 |
| ·壳聚糖固态电解质在ΤFΤ中的应用 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 具有SiO_2钝化层的低电压纸张TFT | 第36-46页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·实验部分 | 第36-39页 |
| ·实验试剂以及设备 | 第36-37页 |
| ·具有SiO_2钝化层纸张TFT的制备 | 第37-39页 |
| ·实验结果与讨论 | 第39-44页 |
| ·SiO_2钝化层的形貌以及平坦化效应 | 第39-40页 |
| ·纸张钝化TFT的电学特性分析 | 第40-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 壳聚糖栅介质在TFT中的应用 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·纸张壳聚糖TFT的制备与性能分析 | 第47-52页 |
| ·纸张壳聚糖TFT的制备 | 第47-48页 |
| ·纸张壳聚糖TFT的性能分析 | 第48-52页 |
| ·复合栅介质TFT的制备与性能分析 | 第52-57页 |
| ·复合栅介质TFT的电学特性分析 | 第52-55页 |
| ·复合栅介质TFT的老化特性研究 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 壳聚糖基单双侧栅纸张TFT | 第58-74页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·实验试剂和设备 | 第59-61页 |
| ·实验试剂以及设备 | 第59页 |
| ·单/双侧栅纸张ΤΦΤ的制备工艺 | 第59-61页 |
| ·实验结果与讨论 | 第61-72页 |
| ·单侧栅纸张ΤFΤ的电学性能 | 第61-68页 |
| ·双侧栅纸张TFT的电学性能 | 第68-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第6章 壳聚糖基无结纸张TFT | 第74-85页 |
| ·引言 | 第74-75页 |
| ·实验部分 | 第75-77页 |
| ·实验试剂以及设备 | 第75页 |
| ·低电压无结纸张TFT的制备 | 第75-77页 |
| ·实验结果与讨论 | 第77-84页 |
| ·无结纸张TFT的电学特性分析 | 第77-80页 |
| ·无结双侧栅纸张TFT的电学特性 | 第80-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 结论 | 第85-88页 |
| 参考文献 | 第88-103页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第103-104页 |
| 附录B 攻读学位期间参与科研项目 | 第104-105页 |
| 致谢 | 第105页 |
