| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·研究内容及意义 | 第8-10页 |
| ·论文总体结构 | 第10-11页 |
| 第二章 电子系统的 PHM 方法 | 第11-21页 |
| ·PHM 系统简介 | 第11-13页 |
| ·电子产品故障预测方法 | 第13-19页 |
| ·预兆单元法 | 第13-14页 |
| ·失效征兆监控方法 | 第14-17页 |
| ·寿命损耗检测法 | 第17-19页 |
| ·基于实验平台的电子 PHM 开发法 | 第19-21页 |
| 第三章 电子 PHM 实验平台的方法与寿命预报模型 | 第21-33页 |
| ·开发电子 PHM 系统实验平台的方法 | 第21-24页 |
| ·机械系统 PHM 的实验平台 | 第21-23页 |
| ·电子产品 PHM 的实验平台 | 第23-24页 |
| ·电子 PHM 系统实验平台的方法 | 第24页 |
| ·典型电子失效机理的 PHM 寿命预报模型 | 第24-33页 |
| ·电子 PHM 系统中 HCE 的寿命预报模型 | 第24-26页 |
| ·电子 PHM 系统中 TDDB 的寿命预报模型 | 第26-29页 |
| ·电子 PHM 系统中 NBTI 的寿命预报模型 | 第29-33页 |
| 第四章 基于实验平台的电子产品 PHM 开发方法 | 第33-49页 |
| ·电子 PHM 开发的 MOS 器件实验平台 | 第33-37页 |
| ·实验平台组成部分 | 第33-34页 |
| ·加速老化设计流程 | 第34-35页 |
| ·具体实例 | 第35-37页 |
| ·基于实验平台 MOS 器件的 PHM 方法 | 第37-45页 |
| ·故障物理模型法 | 第37-40页 |
| ·特征参数监测法 | 第40-45页 |
| ·剩余寿命计算及模型选择 | 第45-49页 |
| 第五章 总结与展望 | 第49-51页 |
| ·论文总结 | 第49页 |
| ·展望 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |