摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 前言 | 第9-14页 |
·绪论 | 第9-11页 |
·问题与挑战 | 第11-12页 |
·本论文的研究意义及安排 | 第12-14页 |
第2章 理论基础 | 第14-28页 |
·绪论 | 第14页 |
·键弛豫理论提出基础 | 第14-20页 |
·晶格周期性破坏的影响 | 第14-16页 |
·低配位原子处势阱的修正 | 第16页 |
·键弛豫理论的数学表达 | 第16-19页 |
·物理量的键弛豫标识 | 第19-20页 |
·能带理论及相关 | 第20-24页 |
·能带理论之出发点-体系哈密顿量 | 第20-21页 |
·近自由电子近似 | 第21-23页 |
·紧束缚近似 | 第23-24页 |
·X 射线光电子能谱(XPS)与俄歇电子能谱(AES) | 第24-27页 |
·光电子能谱之基本原理 | 第24-26页 |
·光电子能谱各能级之标识 | 第26-27页 |
·XPS 和 AES 在材料表征中的应用 | 第27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第3章 表面芯能级偏移 | 第28-36页 |
·绪论 | 第28页 |
·基于键弛豫理论对表面芯能级偏移的解释 | 第28-30页 |
·金属 XPS 解谱确定能级偏移 | 第30-34页 |
·解谱之基本原理及方法 | 第30-31页 |
·Ag 的 3d5/2能级偏移 | 第31-34页 |
·本章小结 | 第34-36页 |
第4章 金属纳米颗粒能级偏移的尺寸效应 | 第36-44页 |
·绪论 | 第36页 |
·各能级之关联 | 第36-38页 |
·金属纳米颗粒能级偏移的尺寸效应分析 | 第38-43页 |
·基于键弛豫理论的能级偏移的尺寸效应分析 | 第38-39页 |
·Ag 纳米颗粒 3d5/2能级和价带中心偏移的尺寸效应分析 | 第39-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第5章 总结与展望 | 第44-46页 |
·全文总结 | 第44页 |
·工作展望 | 第44-46页 |
参考文献 | 第46-53页 |
致谢 | 第53-54页 |
个人简历与在校期间发表的学术论文与研究成果 | 第54页 |