面向线性化功放的基带数字预失真系统设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题的背景 | 第10页 |
| ·国内外研究发展现状 | 第10-12页 |
| ·课题研究的内容和意义 | 第12-14页 |
| 第二章 功率放大器的非线性特性及线性化方法 | 第14-25页 |
| ·功率放大器的种类 | 第14-16页 |
| ·A 类功率放大器 | 第14页 |
| ·B 类功率放大器 | 第14-15页 |
| ·AB 类功率放大器 | 第15页 |
| ·其它类功率放大器 | 第15-16页 |
| ·功率放大器的主要技术指标 | 第16-18页 |
| ·工作频率范围 | 第16页 |
| ·增益 | 第16页 |
| ·增益平坦度 | 第16-17页 |
| ·输出功率 | 第17页 |
| ·效率 | 第17-18页 |
| ·驻波比 | 第18页 |
| ·放大器非线性指标 | 第18-20页 |
| ·1dB 压缩点 | 第18-19页 |
| ·三阶截止点 | 第19-20页 |
| ·记忆效应 | 第20页 |
| ·功率放大器的线性化技术 | 第20-23页 |
| ·功率回退法 | 第21页 |
| ·负反馈法 | 第21-22页 |
| ·前馈技术 | 第22页 |
| ·预失真技术 | 第22-23页 |
| ·射频预失真 | 第23页 |
| ·数字预失真 | 第23页 |
| ·功放线性化技术的比较 | 第23-25页 |
| 第三章 数字预失真原理 | 第25-32页 |
| ·预失真原理 | 第25-26页 |
| ·数字预失真结构 | 第26页 |
| ·数字预失真方法 | 第26-31页 |
| ·参数模型法 | 第26-29页 |
| ·Saleh 模型 | 第26-27页 |
| ·Taylor serises 模型 | 第27页 |
| ·Wiener 模型 | 第27页 |
| ·Hammerstein 模型 | 第27-28页 |
| ·Wiener-Hammerstein 模型 | 第28页 |
| ·参数估计的方法 | 第28-29页 |
| ·查找表法 | 第29-30页 |
| ·Volterra 多项式法 | 第30-31页 |
| ·预失真方法比较 | 第31-32页 |
| 第四章 基带系统电路设计 | 第32-46页 |
| ·系统总体描述 | 第32-33页 |
| ·系统应用背景 | 第33-34页 |
| ·主要芯片选型及介绍 | 第34-37页 |
| ·FPGA 器件选型 | 第34页 |
| ·DAC/ADC 选择 | 第34-36页 |
| ·时钟芯片选择 | 第36-37页 |
| ·控制芯片 | 第37页 |
| ·电路设计 | 第37-46页 |
| ·电源设计 | 第37-39页 |
| ·时钟芯片设计 | 第39-40页 |
| ·ADC/DAC 电路设计 | 第40-42页 |
| ·AD9776 设计 | 第40-41页 |
| ·LTM9003 电路设计 | 第41-42页 |
| ·FPGA 电路设计 | 第42-43页 |
| ·FPGA 电源设计 | 第42页 |
| ·FPGA 时钟设计 | 第42-43页 |
| ·FPGA 配置接口设计 | 第43页 |
| ·FPGA 外围电路 | 第43页 |
| ·控制电路设计 | 第43-44页 |
| ·JTAG 接口电路 | 第44页 |
| ·PCB 板设计 | 第44-46页 |
| 第五章 预失真模块设计 | 第46-59页 |
| ·基带信号流程 | 第46-47页 |
| ·反馈回路采样设计 | 第47-49页 |
| ·带通采样 | 第47-48页 |
| ·采样参数的设置 | 第48-49页 |
| ·数字变频 | 第49-52页 |
| ·变频设计 | 第50-52页 |
| ·查找表法预失真的实现 | 第52-56页 |
| ·LMS 算法简介 | 第52-53页 |
| ·查找表结构 | 第53-54页 |
| ·查找表预失真的仿真 | 第54-55页 |
| ·查找表预失真的 PFGA 实现 | 第55-56页 |
| ·系统时钟配置 | 第56-57页 |
| ·Verilog 代码的编写 | 第57-59页 |
| 第六章 基带数字预失真系统测试 | 第59-65页 |
| ·基带电路板测试 | 第59-62页 |
| ·电源的测试 | 第59页 |
| ·ARM 的测试 | 第59-60页 |
| ·AD9516 的测试 | 第60-61页 |
| ·FPGA 的测试 | 第61-62页 |
| ·基带板调试结论 | 第62页 |
| ·基带数字预失真系统测试 | 第62-65页 |
| 第七章 总结与展望 | 第65-66页 |
| ·全文总结 | 第65页 |
| ·下一步工作和未来研究方向 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
