基于IC测试系统数据采集的软硬件设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·IC 制造流程 | 第8-9页 |
| ·晶圆测试的重要性 | 第9-10页 |
| ·晶圆测试产业现状 | 第10-12页 |
| ·全球晶圆测试产业现状 | 第11页 |
| ·我国晶圆测试产业现状 | 第11-12页 |
| ·课题意义和目的 | 第12-13页 |
| ·本章小结 | 第13-14页 |
| 第二章 分析晶圆测试系统 | 第14-24页 |
| ·分析测试系统的组成和测试过程 | 第14-17页 |
| ·分析介绍晶圆测试仪器 | 第17-23页 |
| ·分析介绍相关的测试机 | 第17-21页 |
| ·分析介绍相关的探针台 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 测试系统通信设计 | 第24-51页 |
| ·课题设计及设计原理 | 第24-25页 |
| ·RS232 接口分析及通信实现 | 第25-44页 |
| ·RS232 接口介绍 | 第25-29页 |
| ·TTL 接口转RS232 接口 | 第29-38页 |
| ·RS232 接口编程介绍 | 第38-41页 |
| ·RS232 接口通信实现 | 第41-44页 |
| ·GPIB 接口分析及通信实现 | 第44-50页 |
| ·GPIB 接口介绍 | 第44-48页 |
| ·GPIB 接口编程 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 中转PC 上功能性程序开发 | 第51-82页 |
| ·完成系统通信及数据保存 | 第51-58页 |
| ·调用接口程序完成通信函数介绍 | 第51-54页 |
| ·提取并保存坐标信息和保存Bin 信息函数介绍 | 第54-58页 |
| ·Wafermap 文件的分析和生成 | 第58-63页 |
| ·程序的窗口化以及实时显示功能实现 | 第63-76页 |
| ·窗体设计文件 | 第64-69页 |
| ·窗体文件 | 第69-76页 |
| ·脱机打点功能实现 | 第76-78页 |
| ·定点回测功能实现 | 第78-80页 |
| ·本章小结 | 第80-82页 |
| 第五章 总结与展望 | 第82-84页 |
| ·课题总结 | 第82-83页 |
| ·课题展望 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
