检测技术的测拓理论与工程方法研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 第一章 可拓检测技术研究概述及其意义 | 第8-15页 |
| 1．1 检测的重要性及其技术发展现状 | 第8-9页 |
| 1．1．1 检测技术发展的重要性 | 第8-9页 |
| 1．1．2 检测技术的发展现状 | 第9页 |
| 1．2 可拓学的发展及其应用 | 第9-11页 |
| 1．2．1 可拓学的发展历程 | 第10-11页 |
| 1．2．2 可拓学的研究意义与应用 | 第11页 |
| 1．3 可拓检测技术 | 第11-12页 |
| 1．4 本文研究的重点及其意义 | 第12-15页 |
| 第二章 可拓科学概述 | 第15-28页 |
| 2．1 物元模型与物元变换 | 第15-21页 |
| 2．1．1 物元的概念 | 第15页 |
| 2．1．2 物元的可拓性 | 第15-18页 |
| 2．1．3 物元变换 | 第18-21页 |
| 2．2 可拓集合与可拓论 | 第21-26页 |
| 2．2．1 可拓集合的概念 | 第21-23页 |
| 2．2．2 关联函数 | 第23-26页 |
| 2．3 物元可拓技术与工程方法 | 第26-28页 |
| 2．3．1 物元可拓的评价方法 | 第26-27页 |
| 2．3．2 可拓工程的菱形思维方法 | 第27-28页 |
| 第三章 检测物元与测拓物元理论 | 第28-37页 |
| 3．1 可测度与检测成本 | 第28-30页 |
| 3．1．1 可测度 | 第28-29页 |
| 3．1．2 检测成本 | 第29-30页 |
| 3．2 检测物元 | 第30-32页 |
| 3．2．1 检测物元定义 | 第30-31页 |
| 3．2．2 检测物元的可测度与检测成本 | 第31-32页 |
| 3．3 测拓物元 | 第32-35页 |
| 3．3．1 测体、测拓征、测拓度 | 第32-34页 |
| 3．3．2 测拓物元定义 | 第34-35页 |
| 3．3．3 测拓物元品质 | 第35页 |
| 3．4 检测任务、检测方案与检测事务 | 第35-37页 |
| 第四章 测拓变换研究 | 第37-47页 |
| 4．1 检测物元变换 | 第37-41页 |
| 4．1．1 检测物元变换的一致性要求 | 第37-38页 |
| 4．1．2 物元要素的变换 | 第38-39页 |
| 4．1．3 检测物元的变换 | 第39-40页 |
| 4．1．4 检测物元变换的变换函数 | 第40-41页 |
| 4．2 测拓物元构造 | 第41-42页 |
| 4．2．1 测拓物元的构造 | 第41页 |
| 4．2．2 测拓物元品质计算 | 第41-42页 |
| 4．3 可测域拓集与检测成本域拓集 | 第42-47页 |
| 4．3．1 检测任务的品质控制函数 | 第42-44页 |
| 4．3．2 测拓物元拓集 | 第44-46页 |
| 4．3．3 测拓物元拓集的二元关联函数 | 第46-47页 |
| 第五章 检测方案制定的工程方法 | 第47-55页 |
| 5．1 测拓工程方法概览 | 第47-48页 |
| 5．2 检测任务初步分析 | 第48-50页 |
| 5．2．1 检测对象分析 | 第48-49页 |
| 5．2．2 检测环境分析 | 第49页 |
| 5．2．3 检测要求分析 | 第49-50页 |
| 5．3 可测树检测拓换与测拓物元集生成 | 第50-51页 |
| 5．3．1 可测树定义 | 第50页 |
| 5．3．2 用可测树来开拓测体 | 第50-51页 |
| 5．3．3 从可测树生成测拓物元 | 第51页 |
| 5．4 可拓优化与评价 | 第51-54页 |
| 5．4．1 测拓物元的可拓评价 | 第52-53页 |
| 5．4．2 测拓物元的可拓优化 | 第53-54页 |
| 5．5 检测方案生成 | 第54-55页 |
| 结束语 | 第55-61页 |
