塑性敏感元件特征参数自动测量仪的研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| ·本课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·塑性测压法国内外发展史 | 第10页 |
| ·塑性敏感元件测压原理 | 第10-11页 |
| ·塑性测压法使用方法简介 | 第11-14页 |
| ·铜柱测压法 | 第11-13页 |
| ·铜球测压法 | 第13页 |
| ·传统塑性测压法判读方法的缺点 | 第13-14页 |
| ·本文的主要工作 | 第14-16页 |
| 2 自动测量仪的总体设计 | 第16-22页 |
| ·总体技术指标的分析与确定 | 第16-17页 |
| ·敏感元件高度测量系统指标的确定 | 第16页 |
| ·敏感元件压偏测量系统指标分析与确定 | 第16-17页 |
| ·敏感元件压力智能判读及数据库功能 | 第17页 |
| ·系统的功能分析 | 第17-18页 |
| ·系统的组成及工作原理 | 第18-20页 |
| ·系统组成及工作原理 | 第18-19页 |
| ·高度测量系统 | 第19页 |
| ·压偏测量系统 | 第19-20页 |
| ·压力智能判读系统 | 第20页 |
| ·系统的工作模式及流程 | 第20-21页 |
| ·系统工作模式 | 第20-21页 |
| ·系统的工作流程 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 3 测试工作台的设计 | 第22-37页 |
| ·测试工作台整体方案的确定 | 第22-23页 |
| ·控制系统的设计 | 第23-28页 |
| ·控制系统的总体方案 | 第23-24页 |
| ·步进电机及驱动器选型 | 第24-25页 |
| ·单片机控制系统 | 第25-28页 |
| ·精密转台的设计 | 第28-32页 |
| ·高度测量传感器安装支架的设计 | 第32-35页 |
| ·高分辨率相机安装支架设计 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 4 高度测量系统的设计 | 第37-47页 |
| ·高度测量系统的组成及工作原理 | 第37页 |
| ·测高传感器 | 第37-39页 |
| ·测高传感器的选型 | 第37-38页 |
| ·光栅位移传感器 | 第38-39页 |
| ·信号调理电路 | 第39-40页 |
| ·高度采集系统 | 第40-46页 |
| ·CPLD处理模块 | 第40-43页 |
| ·单片机控制模块 | 第43-46页 |
| ·硬件电路板设计 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 5 压偏测量系统 | 第47-57页 |
| ·压偏测量系统的组成 | 第47页 |
| ·塑性敏感元件压偏性判定原理 | 第47-49页 |
| ·摄像机的选型 | 第49-50页 |
| ·塑性敏感元件图像数字处理 | 第50-55页 |
| ·图像预处理 | 第50-51页 |
| ·边缘检测 | 第51-52页 |
| ·数学形态学操作 | 第52-54页 |
| ·形状特征检测算法 | 第54-55页 |
| ·具体判定实例 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 6 上位机软件系统的设计 | 第57-68页 |
| ·上位机软件总体设计 | 第57-59页 |
| ·软件实现的功能 | 第57-58页 |
| ·软件开发环境 | 第58-59页 |
| ·测试工作台控制软件设计 | 第59页 |
| ·测高系统数据传输控制及处理 | 第59-61页 |
| ·高度数据的预处理 | 第59-60页 |
| ·高度数据处理及光栅传感器位置判定 | 第60-61页 |
| ·照相系统数据传输控制及处理 | 第61-62页 |
| ·图像采集 | 第61-62页 |
| ·图像处理程序 | 第62页 |
| ·数据库及压力预报 | 第62-67页 |
| ·数据库访问技术 | 第62-64页 |
| ·数据库设计 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 7 系统性能考核 | 第68-72页 |
| ·机械动作考核 | 第68页 |
| ·高度测量系统性能检测 | 第68-71页 |
| ·高度测量系统检测 | 第68-70页 |
| ·转台旋转不同的角度校零 | 第70-71页 |
| ·压偏测量系统检测 | 第71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 全文小结 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 附录A | 第77-80页 |
| 附录B | 第80页 |
