微流控芯片化学发光检测系统的关键技术研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第1章 绪论 | 第8-17页 |
·课题背景 | 第8页 |
·微流控芯片检测国内外发展现状 | 第8-11页 |
·微流控芯片检测国外发展状况 | 第8-10页 |
·微流控芯片检测国内发展状况 | 第10-11页 |
·微流控芯片的光学检测方法 | 第11-15页 |
·吸收光度检测法 | 第12-13页 |
·荧光检测法 | 第13-14页 |
·化学发光检测法 | 第14-15页 |
·微流控芯片检测系统存在的问题 | 第15-16页 |
·课题主要研究内容 | 第16-17页 |
第2章 微流控芯片化学发光检测的基本原理 | 第17-25页 |
·微流体的动电力学原理 | 第17-21页 |
·微流控芯片中的动电效应 | 第17页 |
·双电层和Zeta 电势 | 第17-18页 |
·电泳 | 第18-19页 |
·电渗流 | 第19-21页 |
·化学发光有关的理论 | 第21-24页 |
·化学发光反应的基本原理 | 第21-22页 |
·化学发光体系 | 第22-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第3章 微流控芯片化学发光检测系统的设计 | 第25-41页 |
·微弱信号检测电路的设计 | 第25-36页 |
·前置I—V 转换级设计 | 第26-32页 |
·可变增益放大级设计 | 第32页 |
·低通滤波级设计 | 第32-34页 |
·电压跟随级设计 | 第34-35页 |
·PCB 版图降噪设计 | 第35-36页 |
·光电倍增管驱动电路的设计 | 第36-37页 |
·光电倍增管驱动电路原理图 | 第36页 |
·器件选择和PCB 设计 | 第36-37页 |
·检测系统的屏蔽设计 | 第37-38页 |
·检测系统的电磁屏蔽设计 | 第37-38页 |
·检测系统的光屏蔽设计 | 第38页 |
·检测系统的整体构建和性能测试 | 第38-40页 |
·化学发光检测系统的构建 | 第38-39页 |
·化学发光检测系统性能测试 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第4章 检测系统的Cu~(2+)测试 | 第41-48页 |
·测试实验准备 | 第41-43页 |
·芯片设计和制作 | 第41-42页 |
·实验仪器 | 第42-43页 |
·实验试剂 | 第43页 |
·实验溶液配制 | 第43页 |
·单沟道芯片的铜离子检测 | 第43-46页 |
·铜离子的静态定点检测 | 第43-45页 |
·铜离子的动态电泳检测 | 第45-46页 |
·柱后衍生型芯片的铜离子检测 | 第46-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
结论 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-53页 |
附录 滤波器的原理图 | 第53-55页 |
致谢 | 第55页 |