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孔穴不稳定增长导致高聚物电子封装材料“爆米花”失效的弹塑性理论研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-12页
第一章 绪论第12-24页
   ·电子封装技术概述第12-15页
     ·电子技术的发展第12-13页
     ·电子封装的概念及作用第13-14页
     ·电子封装工艺技术的发展第14-15页
   ·热湿对电子封装可靠性的影响第15-21页
   ·高聚物材料非线性特性及孔穴不稳定问题第21-22页
   ·本文的主要工作第22-24页
第二章 高聚物材料湿热性能研究与蒸汽压力模型第24-41页
   ·电子封装用高聚物材料的热机械分析实验研究第24-29页
   ·高聚物电子封装材料湿膨胀系数的理论研究第29-35页
   ·回流焊过程中分析“popcorn”失效的蒸汽压力模型第35-39页
   ·小结第39-41页
第三章 有限变形的基本理论与高聚物材料的本构模型第41-56页
   ·有限变形问题的基本概念第41-45页
   ·高聚物材料的本构模型第45-54页
     ·统计方法建立的高聚物材料的本构模型第45-48页
     ·以应变张量的不变量表示的各向同性应变能函数形式第48-51页
     ·基于主伸长的橡胶类材料本构理论第51-52页
     ·各向异性材料的应变能函数第52-53页
     ·热超弹性应变能函数的几种形式第53-54页
   ·小结第54-56页
第四章 高聚物电子封装材料“popcorn”失效的弹性研究第56-81页
   ·径向各向异性的广义neo-Hookean储能函数研究第56-65页
   ·补强后具有幂率强化特征的广义neo-Hookean储能函数研究第65-68页
   ·广义Valanis-Landel储能函数研究第68-73页
   ·其他储能函数的研究第73-79页
   ·小结第79-81页
第五章 热储能函数及考虑温度影响的“popcorn”失效研究第81-92页
   ·Gent-Thomas热超弹性材料研究第81-86页
   ·Horgan热高聚物材料研究第86-88页
   ·考虑温度引起的体积膨胀效应对“popcorn”失效的影响第88-91页
   ·小结第91-92页
第六章 高聚物电子封装材料“popcorn”失效的弹-塑性分析第92-110页
   ·neo-Hookean储能函数的弹-塑性研究第92-97页
   ·广义neo-Hookean特征储能函数的弹-塑性研究第97-101页
   ·广义Valanis-Landel储能函数的弹-塑性研究第101-104页
   ·其他储能函数的弹-塑性研究第104-108页
   ·小结第108-110页
第七章 全文总结与工作展望第110-114页
   ·全文总结第110-112页
   ·工作展望第112-114页
参考文献第114-126页
附录Ⅰ第126-130页
致谢第130-131页
攻读博士期间发表的论文第131-132页

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