| 摘要 | 第3-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-33页 |
| 1.1 光滤波器研究背景及分类 | 第13-14页 |
| 1.2 光子晶体滤波器简介 | 第14-16页 |
| 1.2.1 光子晶体的概念及特性 | 第15页 |
| 1.2.2 光子晶体滤波器的研究概况 | 第15-16页 |
| 1.3 量子阱光子晶体 | 第16-18页 |
| 1.3.1 量子阱光子晶体的概念 | 第16-17页 |
| 1.3.2 量子阱光子晶体的特性 | 第17-18页 |
| 1.4 光子晶体的理论研究方法 | 第18-26页 |
| 1.4.1 传输矩阵法 | 第19-22页 |
| 1.4.2 时域有限差分法 | 第22-26页 |
| 1.5 量子阱光子晶体滤波器的研究进展 | 第26-30页 |
| 1.5.1 可调谐滤波器 | 第26-27页 |
| 1.5.2 带通滤波器 | 第27-29页 |
| 1.5.3 带阻滤波器 | 第29页 |
| 1.5.4 量子阱光子晶体滤波器研究存在的问题 | 第29-30页 |
| 1.6 论文主要内容 | 第30-33页 |
| 第二章 多通道镜像对称可调谐滤波器研究 | 第33-49页 |
| 2.1 ABA型量子阱光子晶体结构模型 | 第33-35页 |
| 2.2 滤波器的特性分析 | 第35-41页 |
| 2.2.1 势阱光子晶体周期数M对滤波通道数的影响 | 第35-39页 |
| 2.2.2 势垒光子晶体周期数N对隧穿峰半高宽的影响 | 第39-41页 |
| 2.3 滤波器调谐特性分析 | 第41-47页 |
| 2.3.1 空气缺陷腔对滤波器的高精度线性调谐 | 第41-43页 |
| 2.3.2 入射角度的滤波调谐特性 | 第43-47页 |
| 2.4 本章小结 | 第47-49页 |
| 第三章 日盲紫外波段带通滤波器特性研究 | 第49-75页 |
| 3.1 ABC型滤波器结构及量子阱效应分析 | 第49-67页 |
| 3.1.1 ZrO_2/MgF_2光子晶体结构模型 | 第50-52页 |
| 3.1.2 对共振隧穿效应的抑制 | 第52-56页 |
| 3.1.3 光子晶体周期数的优化 | 第56-63页 |
| 3.1.4 日盲紫外带通滤波器的角度敏感性分析 | 第63-65页 |
| 3.1.5 Si_3N_4/SiO_2量子阱光子晶体的滤波特性 | 第65-67页 |
| 3.2 基于带通滤波器的日盲紫外成像系统设计 | 第67-73页 |
| 3.2.1 量子点光谱转换日盲紫外成像系统 | 第68-70页 |
| 3.2.2 前滤波器对量子点定向增强效应 | 第70-72页 |
| 3.2.3 后滤波器结构设计 | 第72-73页 |
| 3.3 本章小结 | 第73-75页 |
| 第四章 带阻滤波器膜厚扰动的研究及补偿方案 | 第75-91页 |
| 4.1 量子阱光子晶体膜厚扰动模型 | 第76-78页 |
| 4.2 膜厚微扰对光子晶体滤波特性的影响 | 第78-86页 |
| 4.2.1 单一材料膜厚微扰与光子禁带的变化 | 第79-82页 |
| 4.2.2 膜厚微扰偏差σ对滤波特性的影响 | 第82-84页 |
| 4.2.3 周期数增加展宽光子禁带 | 第84-86页 |
| 4.3 降低膜厚扰动影响的逐层补偿方法 | 第86-89页 |
| 4.4 本章小结 | 第89-91页 |
| 第五章 量子阱光子晶体膜厚微扰的实验研究 | 第91-107页 |
| 5.1 磁控溅射镀膜原理和工艺流程 | 第91-94页 |
| 5.2 光子晶体薄膜的表征 | 第94-97页 |
| 5.3 磁控溅射工艺参数的优化 | 第97-102页 |
| 5.3.1 膜层厚度的校正 | 第97-98页 |
| 5.3.2 降低薄膜表面缺陷 | 第98-99页 |
| 5.3.3 改善薄膜表面平整度 | 第99-102页 |
| 5.4 实验结果与分析 | 第102-106页 |
| 5.5 本章小结 | 第106-107页 |
| 第六章 总结与展望 | 第107-111页 |
| 6.1 总结 | 第107-108页 |
| 6.2 创新点 | 第108-109页 |
| 6.3 展望 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-125页 |
| 攻读博士学位期间发表的科研成果 | 第125-127页 |
| 致谢 | 第127页 |
