大规模数字集成电路中的验证技术及其应用
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 缩略词表 | 第8-9页 |
| 目次 | 第9-14页 |
| 1 绪论 | 第14-22页 |
| ·验证技术总述 | 第14-15页 |
| ·EPA芯片介绍 | 第15-19页 |
| ·协议模型背景 | 第15-16页 |
| ·EPA芯片特点 | 第16-18页 |
| ·芯片工作流程 | 第18-19页 |
| ·论文的主要工作 | 第19-20页 |
| ·论文的组织结构 | 第20-22页 |
| 2 基于软件仿真的功能验证 | 第22-56页 |
| ·验证语言简介 | 第23-24页 |
| ·TLM验证方法学 | 第24-35页 |
| ·AVM方法学介绍 | 第25-27页 |
| ·OVM方法学介绍 | 第27-32页 |
| ·VMM方法学介绍 | 第32-34页 |
| ·验证方法和步骤 | 第34-35页 |
| ·EPA系统的功能验证 | 第35-56页 |
| ·EPA验证架构 | 第36-37页 |
| ·断言在EPA验证中的使用 | 第37-40页 |
| ·基于AVM3.0的功能验证 | 第40-48页 |
| ·基于OVM2.0.2的功能验证 | 第48-51页 |
| ·EPA验证中相关问题 | 第51-56页 |
| 3 基于硬件平台的FPGA验证 | 第56-60页 |
| ·FPGA器件介绍 | 第56-57页 |
| ·基于FPGA的EPA验证环境 | 第57-59页 |
| ·FPGA转化为ASIC的相关问题 | 第59-60页 |
| 4 静态验证 | 第60-70页 |
| ·静态时序验证 | 第60-65页 |
| ·静态时序分析原理 | 第60-62页 |
| ·EPA芯片的静态时序分析 | 第62-65页 |
| ·形式验证 | 第65-70页 |
| 5 物理验证 | 第70-78页 |
| ·信号完整性损伤的原因 | 第70-73页 |
| ·信号串扰 | 第70-71页 |
| ·天线效应 | 第71-72页 |
| ·衬底耦合 | 第72页 |
| ·IR dorp | 第72-73页 |
| ·EM效应 | 第73页 |
| ·EPA芯片的信号完整性考虑 | 第73-75页 |
| ·DRC和LVS验证 | 第75-78页 |
| 6 EPA芯片的测试 | 第78-84页 |
| ·测试方案 | 第78-80页 |
| ·测试结果 | 第80-82页 |
| ·同步精度失效分析 | 第82页 |
| ·主从设备同步精度测试 | 第82-84页 |
| 7 总结及展望 | 第84-86页 |
| ·总结 | 第84页 |
| ·展望 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-92页 |
| 作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第92页 |
