致谢 | 第1-7页 |
摘要 | 第7-8页 |
ABSTRACT | 第8-9页 |
目录 | 第9-12页 |
第一章 LED及其驱动电路的发展状况 | 第12-36页 |
·LED的发展现状 | 第12-13页 |
·LED驱动电路的发展现状 | 第13-36页 |
·线性调整型 | 第14-19页 |
·全电流取样线性调整型 | 第14-17页 |
·带差分检测线性调整型 | 第17-18页 |
·比例取样线性调整型 | 第18-19页 |
·精密比例取样线性调整型 | 第19页 |
·电感式开关调整型 | 第19-34页 |
·电压型PWM模式 | 第20-22页 |
·峰值电流型PWM模式 | 第22-31页 |
·滞环电流型PWM模式 | 第31-33页 |
·平均电流型PWM模式 | 第33-34页 |
·LED驱动电路小结 | 第34-36页 |
第二章 LED照明系统保护电路的设计概述 | 第36-53页 |
·保护电路的背景和意义 | 第36页 |
·过温保护 | 第36-43页 |
·温度补偿电路原理 | 第37-41页 |
·过温关断电路原理 | 第41-43页 |
·ESD保护 | 第43-47页 |
·过压保护 | 第47-49页 |
·低压锁存保护 | 第49-50页 |
·过流保护 | 第50-52页 |
·保护电路小结 | 第52-53页 |
第三章 脉宽调制型LED恒流驱动芯片的模块设计与仿真 | 第53-84页 |
·芯片电路结构及设计指标 | 第53-55页 |
·带隙基准源电路的设计与仿真 | 第55-60页 |
·带隙基准源电路设计 | 第55-58页 |
·带隙基准源电路仿真 | 第58-60页 |
·偏置产生电路的设计与仿真 | 第60-62页 |
·电压调整器的设计与仿真 | 第62-65页 |
·误差放大器的设计与仿真 | 第65-68页 |
·积分器的设计与仿真 | 第68-70页 |
·振荡器的设计与仿真 | 第70-72页 |
·PWM比较器的设计与仿真 | 第72-73页 |
·保护电路的设计与仿真 | 第73-78页 |
·过温保护的设计与仿真 | 第73-75页 |
·过压保护的设计与仿真 | 第75-76页 |
·低压锁存保护的设计与仿真 | 第76-77页 |
·过流保护的设计与仿真 | 第77-78页 |
·触发器的设计与仿真 | 第78-80页 |
·驱动电路的设计与仿真 | 第80-84页 |
第四章 脉宽调制型LED恒流驱动芯片的系统设计与仿真 | 第84-94页 |
·电路系统的时域分析 | 第84-85页 |
·电路系统的稳定性分析 | 第85-87页 |
·电路系统的整体仿真 | 第87-94页 |
·电路稳定性仿真 | 第87-88页 |
·电路功能仿真 | 第88-91页 |
·电路性能仿真 | 第91-94页 |
第五章 芯片的版图设计 | 第94-101页 |
·工艺介绍 | 第94-95页 |
·普通功率管的版图设计 | 第95-96页 |
·高压功率管的版图设计 | 第96-97页 |
·ESD保护器件的版图设计 | 第97-98页 |
·整体电路的版图设计及布局 | 第98-101页 |
第六章 芯片的测试与分析 | 第101-136页 |
·芯片的测试方案 | 第101-106页 |
·芯片封装管脚介绍 | 第101-104页 |
·可测性设计考虑 | 第104-105页 |
·测试元器件及仪器 | 第105-106页 |
·各模块电路的测试 | 第106-118页 |
·基准源电路 | 第106-107页 |
·振荡器 | 第107-108页 |
·积分器 | 第108-109页 |
·PWM比较器 | 第109-110页 |
·D触发器 | 第110-111页 |
·保护电路 | 第111-115页 |
·过温保护 | 第111页 |
·过压低压保护 | 第111-112页 |
·ESD保护 | 第112-115页 |
·功率管 | 第115-118页 |
·整体电路的测试 | 第118-134页 |
·电路功能测试 | 第118-119页 |
·恒流特性测试 | 第119-123页 |
·电源电压变化时的恒流特性 | 第119-121页 |
·环境温度变化时的恒流特性 | 第121-123页 |
·工作效率 | 第123-124页 |
·电路其他性能测试 | 第124-129页 |
·开关导通占空比与电源电压的关系 | 第124-125页 |
·误差放大器输出电压与电源电压的关系 | 第125-126页 |
·输出电流与外接LED并联电容的关系 | 第126-127页 |
·输出电流与外接LED串联电感的关系 | 第127-129页 |
·只带电压前馈控制环路的电路测试 | 第129-131页 |
·只带输出电流控制环路的电路测试 | 第131-134页 |
·测试总结 | 第134-136页 |
第七章 总结与展望 | 第136-138页 |
·论文总结 | 第136-137页 |
·对今后工作的建议与展望 | 第137-138页 |
参考文献 | 第138-142页 |
作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第142页 |