面向波分复用系统的阵列波导光栅器件与光开关电路模块
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 波分复用系统的研究意义及发展现状 | 第9-14页 |
| 1.2 本论文的主要内容 | 第14-17页 |
| 2 光波导理论 | 第17-29页 |
| 2.1 平板波导 | 第18-22页 |
| 2.1.1 波动理论分析法 | 第18-22页 |
| 2.2 矩形波导 | 第22-28页 |
| 2.2.1 马卡梯里方法 | 第22-26页 |
| 2.2.2 等效折射率方法 | 第26-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 AWG工作原理与性能指标 | 第29-41页 |
| 3.1 AWG工作原理 | 第29-35页 |
| 3.1.1 罗兰圆工作原理 | 第30-32页 |
| 3.1.2 光栅方程 | 第32-33页 |
| 3.1.3 自由光谱区 | 第33-34页 |
| 3.1.4 色散特性 | 第34-35页 |
| 3.2 AWG性能指标 | 第35-38页 |
| 3.2.1 插入损耗及损耗均匀性 | 第36-37页 |
| 3.2.2 相邻通道串扰 | 第37页 |
| 3.2.3 偏振相关损耗 | 第37-38页 |
| 3.3 AWG应用简介 | 第38-40页 |
| 3.3.1 波分复用/解复用器 | 第38页 |
| 3.3.2 波长路由器 | 第38-39页 |
| 3.3.3 光插分复用器 | 第39-40页 |
| 3.3.4 其他应用 | 第40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 面向CWDM系统的AWG器件 | 第41-57页 |
| 4.1 AWG制作工艺 | 第41-43页 |
| 4.1.1 AWG材料选取 | 第41-42页 |
| 4.1.2 掩埋型SiO2光波导制作工艺简介 | 第42-43页 |
| 4.2 AWG测试 | 第43-52页 |
| 4.2.1 测试流程 | 第43-44页 |
| 4.2.2 测试装置 | 第44-45页 |
| 4.2.3 截断法测波导传输损耗 | 第45-49页 |
| 4.2.4 AWG频谱测试及分析 | 第49-52页 |
| 4.3 AWG封装 | 第52-55页 |
| 4.3.1 光纤阵列及封装平台 | 第52-53页 |
| 4.3.2 封装流程 | 第53-55页 |
| 4.3.3 封装后AWG频谱响应 | 第55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 5 光开关驱动与控制电路模块 | 第57-71页 |
| 5.1 光开关阵列及其电路模块设计方案 | 第57-59页 |
| 5.1.1 光开关阵列 | 第57-58页 |
| 5.1.2 光开关电路模块总体设计方案 | 第58-59页 |
| 5.2 光开关驱动电路 | 第59-61页 |
| 5.3 基于FPGA的光开关控制电路 | 第61-64页 |
| 5.3.1 FPGA简介 | 第61-62页 |
| 5.3.2 光开关控制电路的FPGA开发 | 第62-64页 |
| 5.4 实验测试 | 第64-70页 |
| 5.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 6 总结与展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-79页 |
| 作者简介 | 第79页 |
