| 中文摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 英汉缩略词对照表 | 第10-12页 |
| 前言 | 第12-16页 |
| 1 材料与方法 | 第16-33页 |
| 1.1 实验材料与试剂 | 第16-18页 |
| 1.2 主要实验仪器 | 第18-20页 |
| 1.3 实验方法 | 第20-33页 |
| 1.3.1 原代大鼠海马神经元培养 | 第20-21页 |
| 1.3.2 氧糖剥夺/再灌注（OGD/R）模型的建立 | 第21页 |
| 1.3.3 实验设计与分组 | 第21-22页 |
| 1.3.4 MTT法检测神经细胞存活率 | 第22-23页 |
| 1.3.5 流式细胞技术检测神经细胞凋亡 | 第23页 |
| 1.3.6 DCFH荧光染色检测细胞内活性氧水平 | 第23-24页 |
| 1.3.7 JC-10染色测定线粒体膜电位水平 | 第24页 |
| 1.3.8 质粒的构建与神经细胞的转染 | 第24-25页 |
| 1.3.9 免疫荧光检测线粒体自噬水平 | 第25-26页 |
| 1.3.10 RT-PCR检测线粒体自噬相关基因PINK1、Parkin和LC3的变化 | 第26-29页 |
| 1.3.11 Western Blot法检测线粒体自噬相关蛋白PINK1、Parkin和LC3的表达 | 第29-32页 |
| 1.3.12 统计学分析 | 第32-33页 |
| 2 结果 | 第33-41页 |
| 2.1 氢气提高OGD/R损伤后神经元的存活率 | 第33-34页 |
| 2.2 氢气降低OGD/R损伤后神经细胞的凋亡水平 | 第34-35页 |
| 2.3 氢气降低OGD/R后神经细胞的活性氧水平 | 第35-36页 |
| 2.4 氢气抑制OGD/R损伤后神经元线粒体膜电位的下降 | 第36-37页 |
| 2.5 氢气上调OGD/R损伤后神经元线粒体自噬水平 | 第37-39页 |
| 2.6 氢气上调线粒体自噬相关基因的表达 | 第39-40页 |
| 2.7 氢气上调线粒体自噬相关蛋白的表达 | 第40-41页 |
| 3 讨论 | 第41-45页 |
| 4 结论 | 第45页 |
| 5 研究不足之处 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-52页 |
| 综述 | 第52-67页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
