| 摘要 | 第10-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 概述 | 第15-17页 |
| 1.2 研究内容 | 第17-18页 |
| 1.3 主要工作与章节安排 | 第18-21页 |
| 第二章 忆阻器与忆阻阵列阻抗测量与控制方法综述 | 第21-45页 |
| 2.1 忆阻器阻抗测量与控制方法综述 | 第21-32页 |
| 2.1.1 忆阻器阻抗测量方法综述 | 第21-23页 |
| 2.1.2 忆阻器阻抗控制方法综述 | 第23-32页 |
| 2.2 忆阻阵列阻抗测量和控制方法综述 | 第32-44页 |
| 2.2.1 忆阻阵列及其等效电路 | 第32-34页 |
| 2.2.2 忆阻阵列阻抗测量方法综述 | 第34-43页 |
| 2.2.3 忆阻阵列阻抗控制方法综述 | 第43-44页 |
| 2.3 小结 | 第44-45页 |
| 第三章 忆阻器阻抗测量与控制研究 | 第45-77页 |
| 3.1 阻抗测量与控制方法总体设计 | 第45-48页 |
| 3.2 忆阻器电铸研究 | 第48-55页 |
| 3.2.1 电铸机理分析 | 第48-51页 |
| 3.2.2 电铸实验系统 | 第51-52页 |
| 3.2.3 电铸过程参数控制研究 | 第52-55页 |
| 3.3 忆阻器编程脉冲参数研究 | 第55-65页 |
| 3.3.1 编程脉冲参数对阻抗控制的影响规律 | 第55-57页 |
| 3.3.2 编程脉冲参数影响规律的普遍存在性分析 | 第57-65页 |
| 3.4 忆阻器限流电路研究 | 第65-74页 |
| 3.4.1 限流电路对阻抗控制的影响分析 | 第65-66页 |
| 3.4.2 限流电路设计 | 第66-70页 |
| 3.4.3 限流电路性能验证 | 第70-74页 |
| 3.5 小结 | 第74-77页 |
| 第四章 忆阻阵列阻抗测量与控制研究 | 第77-97页 |
| 4.1 基于电压偏置方案的忆阻阵列阻抗测量和控制方法 | 第77-81页 |
| 4.1.1 忆阻阵列阻抗测量和控制系统现有方案性能对比 | 第77-79页 |
| 4.1.2 忆阻阵列阻抗测量和控制系统总体设计 | 第79-81页 |
| 4.2 忆阻阵列阻抗测量与控制系统关键电路设计 | 第81-87页 |
| 4.2.1 ADC电路设计 | 第82-84页 |
| 4.2.2 箝位放大器设计 | 第84-85页 |
| 4.2.3 地址选通单元设计 | 第85-86页 |
| 4.2.4 阵列线电阻设计 | 第86-87页 |
| 4.3 忆阻阵列阻抗测量与控制系统实现与性能评估 | 第87-96页 |
| 4.3.1 阵列阻抗测量与控制系统实现 | 第87-90页 |
| 4.3.2 性能测试方案 | 第90页 |
| 4.3.3 测试结果分析 | 第90-96页 |
| 4.4 小结 | 第96-97页 |
| 第五章 低转换电压型和高非线性度型忆阻阵列阻抗测量与控制研究 | 第97-119页 |
| 5.1 低转换电压型忆阻阵列阻抗测量与控制方法 | 第97-104页 |
| 5.1.1 基于加噪技术的低电压型阻抗测量方法 | 第97-100页 |
| 5.1.2 阻抗测量与控制电路实现和性能评估 | 第100-104页 |
| 5.2 高非线性度型忆阻阵列阻抗测量与控制方法 | 第104-116页 |
| 5.2.1 基于跨阻放大器的高非线性型阻抗测量电路 | 第104-107页 |
| 5.2.2 阻抗测量与控制电路关键电路设计 | 第107-112页 |
| 5.2.3 阻抗测量与控制电路实现和性能评估 | 第112-116页 |
| 5.3 小结 | 第116-119页 |
| 第六章 总结与展望 | 第119-121页 |
| 6.1 总结 | 第119-120页 |
| 6.2 未来工作计划 | 第120-121页 |
| 致谢 | 第121-123页 |
| 参考文献 | 第123-135页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第135页 |
