| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第15-30页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 课题的研究目的和意义 | 第16-18页 |
| 1.3 可靠性退化试验研究现状 | 第18-22页 |
| 1.3.1 性能退化模型研究现状 | 第18-21页 |
| 1.3.2 退化试验数据分析方法研究现状 | 第21-22页 |
| 1.4 贮存可靠性研究现状 | 第22-25页 |
| 1.4.1 贮存可靠性国外研究现状 | 第23-24页 |
| 1.4.2 贮存可靠性国内研究现状 | 第24-25页 |
| 1.5 继电器可靠性研究现状 | 第25-27页 |
| 1.5.1 继电器工作可靠性研究现状 | 第25-26页 |
| 1.5.2 继电器贮存可靠性研究现状 | 第26-27页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第27-30页 |
| 第2章 航天电磁继电器贮存可靠性退化试验系统 | 第30-47页 |
| 2.1 引言 | 第30页 |
| 2.2 航天继电器贮存性能监测参数分析 | 第30-34页 |
| 2.2.1 研究对象分析 | 第30-31页 |
| 2.2.2 继电器触点等效动力学模型 | 第31-32页 |
| 2.2.3 贮存性能监测参数分析 | 第32-34页 |
| 2.3 试验系统总体方案设计 | 第34-37页 |
| 2.3.1 试验系统设计标准 | 第34-35页 |
| 2.3.2 试验系统功能及技术指标 | 第35-36页 |
| 2.3.3 试验系统总体架构 | 第36-37页 |
| 2.4 试验系统硬件设计 | 第37-40页 |
| 2.4.1 接触电阻测试单元电路设计 | 第37-38页 |
| 2.4.2 时间参数测试单元电路设计 | 第38-39页 |
| 2.4.3 试品切换单元电路设计 | 第39-40页 |
| 2.5 试验系统软件设计 | 第40-44页 |
| 2.5.1 继电器贮存监测参数算法分析 | 第40-42页 |
| 2.5.2 试验系统上位机软件设计 | 第42-44页 |
| 2.6 试验系统准确度测试 | 第44-45页 |
| 2.6.1 接触电阻测试精度 | 第44页 |
| 2.6.2 时间参数测试精度 | 第44-45页 |
| 2.7 本章小结 | 第45-47页 |
| 第3章 航天电磁继电器贮存可靠性退化试验研究 | 第47-67页 |
| 3.1 引言 | 第47页 |
| 3.2 贮存失效的基本要素分析 | 第47-49页 |
| 3.2.1 环境应力 | 第47-48页 |
| 3.2.2 失效模式 | 第48页 |
| 3.2.3 失效机理 | 第48-49页 |
| 3.3 航天电磁继电器贮存可靠性退化试验方案 | 第49-53页 |
| 3.3.1 继电器贮存退化试验环境应力 | 第50页 |
| 3.3.2 继电器贮存退化试验条件 | 第50-52页 |
| 3.3.3 继电器贮存退化试验过程 | 第52-53页 |
| 3.4 继电器贮存退化试验中监测参数的退化特性分析 | 第53-66页 |
| 3.4.1 监测参数数据的分析流程 | 第53-55页 |
| 3.4.2 贮存退化试验监测参数的结果分析 | 第55-66页 |
| 3.4.3 贮存退化敏感参数的确定 | 第66页 |
| 3.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第4章 航天继电器贮存失效机理分析与可靠性建模 | 第67-98页 |
| 4.1 引言 | 第67页 |
| 4.2 航天电磁继电器贮存失效机理分析 | 第67-71页 |
| 4.2.1 继电器的接触传导特性 | 第67-69页 |
| 4.2.2 继电器贮存接触失效机理分析 | 第69-71页 |
| 4.3 触点表面形貌与化学成分分析 | 第71-76页 |
| 4.3.1 触点表面SEM试验 | 第71-73页 |
| 4.3.2 触点EDX分析 | 第73-76页 |
| 4.4 航天继电器贮存退化物理方程 | 第76-77页 |
| 4.5 继电器贮存可靠性统计模型 | 第77-82页 |
| 4.5.1 继电器贮存失效寿命分布 | 第78-81页 |
| 4.5.2 继电器贮存可靠性统计模型 | 第81-82页 |
| 4.6 基于应力松弛的继电器吸合时间贮存退化建模 | 第82-88页 |
| 4.6.1 继电器反力与吸合时间之间的关系 | 第82-86页 |
| 4.6.2 继电器吸合时间贮存退化模型 | 第86-88页 |
| 4.7 基于扩散理论的继电器贮存等效动力学建模 | 第88-95页 |
| 4.7.1 触点表面腐蚀膜的增长 | 第88-92页 |
| 4.7.2 触点压降及触点压力与腐蚀膜增长关系 | 第92-94页 |
| 4.7.3 触点接触电阻增长模型 | 第94-95页 |
| 4.7.4 贮存等效动力学模型评估结果分析 | 第95页 |
| 4.8 本章小结 | 第95-98页 |
| 第5章 航天电磁继电器贮存可靠性评估及寿命预测 | 第98-129页 |
| 5.1 引言 | 第98页 |
| 5.2 航天电磁继电器贮存可靠性评估模型 | 第98-106页 |
| 5.3 航天电磁继电器贮存可靠性评估 | 第106-112页 |
| 5.3.1 贮存可靠性评估方法 | 第106-109页 |
| 5.3.2 模型参数评估结果分析 | 第109-112页 |
| 5.4 基于灰色神经网络的贮存退化参数组合预测方法 | 第112-119页 |
| 5.4.1 灰色系统理论预测模型 | 第112-114页 |
| 5.4.2 人工神经网络预测模型 | 第114-115页 |
| 5.4.3 灰色神经网络组合预测模型 | 第115-119页 |
| 5.5 贮存回归退化模型及寿命预测 | 第119-127页 |
| 5.5.1 贮存退化敏感参数预处理 | 第120-122页 |
| 5.5.2 回归预测方程与参数估计 | 第122-124页 |
| 5.5.3 贮存寿命预测及评价 | 第124-127页 |
| 5.6 本章小结 | 第127-129页 |
| 结论 | 第129-131页 |
| 参考文献 | 第131-143页 |
| 附录 | 第143-144页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文及其它成果 | 第144-146页 |
| 致谢 | 第146-147页 |
| 个人简历 | 第147页 |