| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 前言 | 第9-12页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 主要工作和创新 | 第10-11页 |
| 1.3 论文的组织和安排 | 第11-12页 |
| 第二章 锁相环频率综合器指标定义与系统设计 | 第12-32页 |
| 2.1 锁相环频率综合器概述 | 第12-13页 |
| 2.2 锁相环主要性能指标 | 第13-22页 |
| 2.2.1 相位噪声 | 第13-16页 |
| 2.2.2 频谱杂散 | 第16-21页 |
| 2.2.3 频率分辨率 | 第21页 |
| 2.2.4 建立时间 | 第21-22页 |
| 2.3 EN 330 200频率综合器系统指标定义 | 第22-25页 |
| 2.3.1 EN330 200标准简介 | 第22-23页 |
| 2.3.2 868/434MHz发射机对频率综合器的指标要求 | 第23-25页 |
| 2.4 锁相环系统S域模型及相位噪声模型 | 第25-28页 |
| 2.5 频率综合器系统相位噪声的优化 | 第28-31页 |
| 2.5.1 参考时钟和分频器噪声 | 第28页 |
| 2.5.2 鉴频鉴相器和电荷泵噪声 | 第28-29页 |
| 2.5.3 压控振荡器噪声 | 第29页 |
| 2.5.4 环路滤波器 | 第29页 |
| 2.5.5 ∑-Δ调制器噪声 | 第29-30页 |
| 2.5.6 带宽对相位噪声的影响 | 第30-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 模拟电路模块分析与设计 | 第32-55页 |
| 3.1 电荷泵的设计与优化 | 第32-39页 |
| 3.1.1 电荷泵的基本结构 | 第32-35页 |
| 3.1.2 电荷泵电流的失配对杂散的影响 | 第35-38页 |
| 3.1.3 电荷泵电流噪声 | 第38-39页 |
| 3.2 低功耗低噪声压控振荡器的设计 | 第39-51页 |
| 3.2.1 交叉耦合振荡器的三种结构 | 第39-43页 |
| 3.2.2 压控振荡器相位噪声的来源 | 第43-48页 |
| 3.2.3 压控振荡器相位噪声的优化 | 第48-51页 |
| 3.3 可编程分频器设计 | 第51-53页 |
| 3.3.1 可编程分频器的实现 | 第51-52页 |
| 3.3.2 高频二分频器的设计 | 第52-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 自动频率校准(AFC)模块分析与设计 | 第55-64页 |
| 4.1 AFC原理概述 | 第55-56页 |
| 4.2 AFC校准精度和速度 | 第56-59页 |
| 4.2.1 系统误差 | 第58-59页 |
| 4.2.2 分数误差 | 第59页 |
| 4.3 一种高精度快速校准AFC电路 | 第59-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 芯片设计实例 | 第64-76页 |
| 5.1 电路模块设计 | 第64-68页 |
| 5.1.1 高速鉴频鉴相器的设计 | 第64-65页 |
| 5.1.2 低静态失配电荷泵的设计 | 第65-67页 |
| 5.1.3 电感电容压控振荡器 | 第67-68页 |
| 5.2 版图与仿真结果 | 第68-75页 |
| 5.2.1 VCO仿真结果 | 第69-70页 |
| 5.2.2 电荷泵仿真结果 | 第70-71页 |
| 5.2.3 分频器仿真结果 | 第71-72页 |
| 5.2.4 频率校准环路仿真结果 | 第72-73页 |
| 5.2.5 频率综合器的自锁定过程 | 第73页 |
| 5.2.6 频率综合器整体相位噪声的仿真 | 第73-75页 |
| 5.3 性能总结 | 第75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 工作总结 | 第76页 |
| 6.2 未来展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |